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名称： 空间效应测试系统 参考品牌：NI 参考型号： 用途： 测试系统能够对ROMSRAM、EEPROM、flash等存储器以及其他器件进行完整的特征。系统中包电源模块，给被测器件提供电源；高速的数字I/O，可以驱动地址线，读取/写入数字量，设置控制引脚，可以建立多种通讯协议（SPI，I2C，JTAG等）；带Virtex-5 SX95T的现场可编程门阵列(FPGA)模块，整合了640个DSP slice可以构建数字滤波器、快速傅立叶变换(FFT)自定义的信号处理。 技术参数： 空间效应测试系统集成下列主要软硬件： 1、八槽机箱? 3U标准，4个混合插槽，3个Express插槽，1个Express系统定时插槽? 0 °C到55 °C的温度下，总功率达507 W ? 每插槽高达1 GB/s的专用带宽和7 GB/s的系统带宽 ? 提供牢固且便携式的显示器与键盘、坚固装运箱和其它附件 ? 模块兼容性强 2、主控制器； ? 1.73 GHzIntel Core i7-820处理器 ? 高带宽PXI Express嵌入式控制器，高达8 GB/s的系统带宽和2 GB/s的插槽带宽 ? 2 GB (1 x 2 GB DIMM)双通道1333 MHz DDR3 RAM标准，8 GB ? 2个10/100/1000BASE-TX (Gigabit)以太网接口，4USB接口，Expre