空间电子器件抗辐射可靠性一种分析方法.pdf

真空与低温 增刊2 138 201 VacuumCryogenics 1年12月 空间电子器件抗辐射可靠性的一种分析方法 把得东，杨生胜，薛玉雄，安恒 (兰州空间技术物理研究所，真空低温技术与物理重点实验室，甘肃，兰州，730000) 摘要：空间中运行的航天器，会受到空间辐射环境的影响。航天器上的电子元器件在空间辐射环境的作用下，会产生 各种效应，影响元器件甚至整个系统的性能，提高了航天器运行的风险，增加了成本。如何去分析电子元器件在空间环境中的 可靠性，是空间研究的一个重要方向。本文介绍了一种分析长寿命航天器上的电子器件在空间中抗辐射加固可靠性的方法。 在一般性的假设前提下，根据可靠性理论，得到了器件发生总剂量效应和单粒子效应时的可靠性。根据地面辐照试验的结 果，通过计算，就可以估计出器件在空间辐射环境中的可靠性。 关键词：可靠性；总剂量效应；单粒子效应；故障率 中图分类号：V443 文献标识码：A 文章编号：1006—7086(2011)增2-0138-004 1．Z2．026 DOI：10．3969／j．jssn．1006-7086．201 l引言 空间中运行的航天器，经常暴露在空间辐射环境中(主要指空间带电粒子辐射环境，包括地球辐射带、太阳宇宙 射线、银河系宇宙射线、空间等离子体与太阳风)。应用在航天器上的电子元器件，与空间辐射环境中的带电粒子相互 作用，会产生各种效应。由于航天器轨道空间的粒子成分、能量和通量具有多样性，因此，空间带电粒子和航天器上的 电子元器件之间形成了不同的空间辐射效应。其中对航天器影响较大的效应主要有总剂量效应和单粒子效应。 这些效应会影响航天器上的电子元器件的性能，导致器件的性能退化，功能紊乱，从而影响整个航天器 稳定、可靠地运行，严重的会导致整个航天器失效，对国民经济产生不利的影响，增加了成本。 随着我国航天事业的蓬勃发展，越来越多的卫星将被使用在国民经济的各个方面。国民经济和国防建 设对航天任务提出了越来越高的要求，对卫星(航天器)的可靠性也提出了越来越高的要求。因此，应该对研 制的产品进行可靠性设计，可靠性分析和评价，以此来提高产品的可靠性，延长卫星的寿命，这样既能满足任 务的需求，又能节约人力和物力等资源，也符合我国积极推进创建节约型社会的宗旨。 2 空间电子元器件抗辐射加固的可靠性分析 由于应用于空间的微电子器件在结构、技术和T艺方面并不相同，所以空间辐射场对电子器件的影响机 理也不相同。因此，很难用一种统一的方法来分析空间电子器件抗辐射加固的可靠性和适用性。本文在结合 他人研究的基础上，介绍了一种基于可靠性理论假设的方法。这种方法不仅考虑了辐射因素对电子器件的 影响，同时也考虑了其它外部因素对器件工作状态的影响，如高低温、机械负载等。 2．1一般性假设 描述器件的可靠性时需要采用可靠性指标。常用的可靠性指标为：器件无故障T作的概率p(t)，器件发 生故障的概率q(t)，以及故障率A(f)。三者的关系可以用下面的关系式来表示： r‘ 一 J (2．1) 只t)=1一q(t)=exp[一j．A(t)dt J U 在可靠性理论中，A(￡)是表征器件可靠性和适用性的一个重要参数。它包含了T艺设计中的不稳定因素 和其它外部不稳定因素。 收稿Et期：2011-09—01． 作者简介：把得东(1984--)男。助理工程师，电子科学与技术专业，研究方向为空间辐射环境及其防护。 增刊2 真空与低温 2011年12月 Vacuum＆Cryogenics 139 根据(Va