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1门电路功能测试实验
实验一、 集成门电路逻辑功能及参数测试;二、实验设备
1．数字存储示波器：TDS1002 。
2．函数信号发生器：EE1641D 。
3 ．数字万用表：UT58A。
4．数字实验箱：CDS-02（?）
5.可跟踪直流稳定电源：SS3323 ;三、实验原理
本实验选择TTL两输入与非门74LS00和CMOS两输入与非门74HC00 (4011)，它们的外部管脚定义相同，如下图所示。
;;TTL:(电源电压范围：4.5－5.5V)
; 1、测与非门的逻辑功能 ; 2．TTL和CMOS与非门的参数测试
（1）输出高电平VOH和输出电平VOL ：;（2）TTL的低电平输入电流IIL和低电平最大输出电流IoL(max)及低电平扇出系数N ：;
b.低电平输出电流是指被测输出端为低电平，且带有负载时的灌电流值。当低电平上升到VOLmax时的电流为IoL(max)。一般为4－8mA
;扇出系数是指驱动同类门电路的数目，用以衡量带负载能力。;（3）TTL和CMOS与非门的电压传输特性：;3. 动态测试???
将函数发生器调至TTL输出、?=1kHz，接入A输入端。
①B端接1时，用示波器同时观察A和L的波形并记录。
② B端接0时，观察并记录波形。;五、注意事项：;;六、实验报告 1. 认真记录所测与非门的主要参数VOH、VOL、IIL、 IOL，并与标准值比较且将两种器件进行比较。 2. 用坐标纸仔细描绘所测与非门电压传输特性曲线，标 出VOH、VOL、VON、VOff，两种器件进行比较。 ;七、思考题（写在实验报告中）
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