相关流量(冀东汇报).ppt

注入剖面(相关流量)汇报 目录 相关流量测井介绍 同位素相关流量测井拓展应用 实测资料介绍 吸水剖面测井方法介绍 同位素吸水剖面测井－－优势：适用范围广，窜槽，吸水韵律。缺点：粘污、进层。 示踪流量测井－－优点：单层吸水量准确。缺点：管柱结构限制，窜槽。 涡轮流量测井－－优点：连续剖面，计算精确。缺点：管柱结构限制、注入水质、窜槽。 脉冲中子氧活化测井－－优点：不受管柱限制，精确。缺点：受注水量限制。 相关流量测井－－优点：适用范围广，测量精度较高，不受粘污进层影响。缺点：无法判断窜槽。 同位素吸水剖面测井的发展和现状 增加井下固液一体释放器 增加流温和关井井温（静温）测量 解释方面增加了粘污校正系数等校正参数 动态跟踪监测 通过引进相关流量方法对同位素吸水剖面测井进行本质性的革新。 同位素测井方法的改进 改进仪器和地面系统，用于相关流量测井，制定相应的施工规范。 测井解释方法的改进：包括相关流量测井的解释方法研究，同位素校正方法的改进 第一部分 相关流量测井介绍 测井软件由原来的上测、下测功能增加了时间驱动的测井程序； 在测井施工过程中可以方便的计算出伽马曲线峰值的深度和时间； 为了在现场直观识别伽马曲线峰值，软件改变原设定，曲线形状明显改观； 增加了实时功能，在测井过程中用鼠标任意点击曲线某点可以实时显示曲线所在位置的深度及测量时间。 施工规范的制定 在释放完同位素后应在第一时间进行上、下测追踪。 每次释放后尽量将追踪示踪剂的过程记录在一个文件上。分段记录的应减少两个文件记录的时间间隔。 测速应在可能情况下尽量提高测速，最高测速不得超过5000m/h，避免因测速太快造成GR曲线形态失真。 如发生在两射孔层层间上、下测均未追踪到示踪剂峰值现象，应再次释放，直到追踪到为止。如层间太近，可考虑合层解释。 相关流量解释方法研究 流体速度法 示踪剂损耗法－－面积法 追踪法是在释放同位素后通过仪器在井内上下运移追踪示踪剂在井内运移的轨迹和时间，通过记录的时间和深度获取速度的方法。 时间、速度读取方法 峰值法 峰值趋势法 前沿读值法 前沿峰值法 在管径不发生不可知变化的情况下需通过面积损耗法求取吸水量。 在追踪过程中，由于同位素为液体的，会随流体进入到地层深处，伽马探测器在层间追踪测得的异常幅值为剩余的活化液强度，根据各层间追踪的异常幅值的面积差值法进行相对吸水量的计算。面积法的依据是示踪相关流量曲线与自然伽马基线所形成面积与流量大小成正比关系。 面积法测量的局限 第一、测井结果取决于伽马曲线强度及管内示踪剂的平均浓度，但示踪剂进入井内后，要使其与井内流体充分混合需要较长时间，在此之前测得的曲线面积与充分混合后的相比或高或低，赖于测量时示踪剂是靠近仪器，还是靠近井壁。尽管混合不均只影响最初的几次测量，但由于流动剖面是以初始面积为标准，因此会产生误差。 第二、深度分辨率差。示踪剂在完成一次测井时要移动一定的距离。因此深度分辨率较低，一旦示踪剂恰好对着吸水层，则解释结果会出现较大误差。 第三、测井速度的影响。仪器速度越慢，所测的示踪剂的形状就越压缩；流速发生变化时，所测形状会继续变形。这是影响示踪剂损耗测井精度的重要因素。 相关流量测井优缺点 优点： 1、不受同位素路径粘污和同位素进层影响。 2、对注入水质要求低。 3、可用于注聚井剖面的录取。 4、受同位素路径损耗影响小 5、提高了测井成功率、解释精度和吻合率。 缺点： 1、不能对窜槽进行判断。 2、管径发生突变时解释结果影响较大。 第二部分 相关流量测井拓展应用 通过对地面设备的改造，使得在常规同位素测井中增加相关流量测井成为可能。即在测井时一次性释放同位素颗粒，利用同位素在分布过程中完成了相关流量测井，在同位素分布稳定后再完成常规吸水剖面测井，两种测井方法实现了有机结合。 改进后同位素测井解释方法 相关流量测井计算各层或层组的吸水量。 同位素测井划分吸水层和吸水量。 利用相关流量计算结果对粘污进行校正。 利用同位素测井资料详细划分吸水层，反映单层吸水韵律。 颗粒同位素相关流量测井适用性 由于同位素释放为一次性释放，不能进行多次释放。对资料验证不利 对层间距离太近的井，由于不能及时追踪到层间的峰值，分层能力受到限制，但可用同位素曲线进行补偿。 对分层配注的井受流动状态的影响，应用效果受到局限。 对油管内粘污的井效果受管内粘污的影响，对峰值判断造成影响。 对注水量较低且大部层位距离喇叭口较近的井应用效果受到限制，原因是由于同位素释放后形成的悬浊液井段过长造成的。 改进后的同位素测井特点 综合了同位素测井和相关流量测井优势，两种测井方法相互验证，提高了资料的准确性。 可准确判断油管内的流速，对测井