X射线吸收简介.docVIP

一、射线吸收简介 射线穿过厚度为x的样品后，其强度会因为吸收而衰减为（见图1），由此我们可以定义X射线吸收系数 射线吸收谱就是测量射线吸收系数随射线能量的变化曲线。从吸收系数与入射光子能量的关系曲线中，可以观察到曲线有三个基本特征（见图2）： 1）随着入射光子能量的增加，总的吸收系数在减小； 2）在特定的能量点，吸收系数会阶梯函数式的急剧增加，这个能量点称为吸收边； 3）吸收边之后，出现会出现一系列的摆动或者振荡，这种小结构一般为吸收截面的百分之几。  图1 射线吸收过程，为入射光强，为出射光强，样品厚度为，吸收系数被定义为 图2射线吸收系数随光子能量的变化曲线， 分别对应电子吸收边 第一个特征就是众所周知的原子对射线的吸收现象，它是光滑且单调下降的曲线，在数据处理中我们可以将它作为本底扣除。 第二个特征的能量位置对于给定的吸收原子是独一无二的；源于内壳层电子的激发能量，入射光子激发原子芯能级电子跃迁到自由态或空态。 最后一个特征即所谓的XAFS曲线，它包含着体系的结构信息。合理分析XAFS谱，能够获得关于材料的几何结构以及电子和振动特性信息。在许多科学领域里，如生物、化学、电子、地质、材料等，对局域原子结构信息（如原子的种类、数目以及所处的位置等）的了解是极其重要。但是目前还没有其它的实验手段能够比较好地给出无序体系的结构信息，因此XAFS是一个非常重要的实验手段