X射线荧光光谱研究.pptVIP

5.X射线荧光光谱分析的应用 4. X射线荧光光谱仪 3.X射线荧光光谱原理 2. X射线的特征 1. 概述 X射线荧光光谱分析的应用 XRF分析主要应用领域 电子和磁性材料：存储器、磁盘、硅片、集成电路等。 化学工业：催化剂、聚合物、医药、涂料、油脂、洗涤 剂、化妆品。 陶瓷和水泥工业：高铝材料、玻璃、耐火材料、水泥等。 钢铁工业：普通钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣等。 非铁合金：记忆合金、铜合金、贵金属等。 地质矿业：矿石、岩石、火山灰等。 X射线荧光光谱分析的应用 XRF分析主要应用领域 石油和煤：油脂、润滑油、燃料油、重油、煤、煤灰等。 环境：自来水、海水、排放水、大气飘尘、工业废弃物 物等。 其它：土壤、植物、生物体、食物、文物、核电等。 X射线荧光光谱分析的新应用 在材料及毒性物品监测中的应用 XRF技术适于监控相关材料中的有毒有害元素的含量， 已广泛应用于实际生产质量控制。 作为一种无损检测技术，XRF可直接用于安检、珠宝文 物、大型器件探伤等原位分析。 X射线荧光光谱分析的新应用 在生物、生命及环境领域中的应用 XRF技术已成功应用于环境、食物链、动植物、人体组 织细胞及器官、生物医学材料、代谢产物中的无机元素 测定。 XRF分析专家们已广泛开展分析数据与所包含信息的相 关性研究，为环境预测与治理等提供科学依据。 思考题 ⑴ 简述X射线荧光光谱法的优缺点。 答：优点有：是一种无损检测技术；分析速度快，分析精度高，重现性好；可分析块状、粉末、液体样品，适于各类固体样品主、次、痕量多元素同时测定；可分析镀层和薄膜的组成和厚度；制作方法简单。 缺点有：检出限不够低，不适于分析轻元素； 依赖标样，分析液体样品比较麻烦。 思考题 ⑵ 简述波长型与能量型的X射线荧光光谱分析 的差异。 答：在X射线产生的物理基础方面，波长型和能量型的X射线荧光光谱分析相同，所不同的是波长色散型仪器是根据布拉格定律用分光晶体对样品中不同元素所辐射的荧光X射线进行色散、探测，而能量色散型仪器是用固体半导体探测器等直接探测X射线，通过多道分析器进行能量甄别与测量。 敬请老师同学批评指正！ 谢谢！ * 波长色散型谱仪所使用的探测器有两大类。一类是利用X射线对物质的电离性能的充气型正比计数器PC（gas Proportional Counter），它可分为气流型正比计数器FPC（gas Flow Proportional Counter）和封闭型正比计数器SPC（Sealed Proportional Counter）。另一类是利用X射线对物质的闪烁作用(荧光作用)为思路的闪烁计数器SC（Scitillation Counter）. PC类计数器常用来对长波和超长波X射线探测，尤其是FPC有较高的能量分辨率并对轻元素有较高的技术效率，SC常用于探测较高原子序数的元素，探测波长相对较短。 * 波长色散型谱仪所使用的探测器有两大类。一类是利用X射线对物质的电离性能的充气型正比计数器PC（gas Proportional Counter），它可分为气流型正比计数器FPC（gas Flow Proportional Counter）和封闭型正比计数器SPC（Sealed Proportional Counter）。另一类是利用X射线对物质的闪烁作用(荧光作用)为思路的闪烁计数器SC（Scitillation Counter）. PC类计数器常用来对长波和超长波X射线探测，尤其是FPC有较高的能量分辨率并对轻元素有较高的技术效率，SC常用于探测较高原子序数的元素，探测波长相对较短。 * 波长色散型谱仪所使用的探测器有两大类。一类是利用X射线对物质的电离性能的充气型正比计数器PC（gas Proportional Counter），它可分为气流型正比计数器FPC（gas Flow Proportional Counter）和封闭型正比计数器SPC（Sealed Proportional Counter）。另一类是利用X射线对物质的闪烁作用(荧光作用)为思路的闪烁计数器SC（Scitillation Counter）. PC类计数器常用来对长波和超长波X射线探测，尤其是FPC有较高的能量分辨率并对轻元素有较高的技术效率，SC常用于探测较高原子序数的元素，探测波长相对较短。 * * * * * * * X射线荧光光谱仪 波长色散X射线荧光光谱仪 仪器组成 图6 波长色散型谱仪原理图示 X射线荧光光谱仪 波长色散X射线荧光光谱仪 仪器组成 激发系统 分光系统 探测系统 仪器控制和 数据处理系统 发出一次 X射线， 激发样品 对来自样 品元素特 征X射