微带器件双端口测试的校准件设计.pdfVIP

2013年 1O月 北 京 邮 电 大 学 学 报 0ct．2O13 第 36卷 第 5期 JournalofBeijingUniversityofPostsandTelecommunications V01．36No．5 文章编号 ：1007—5321(2013)05-0001-05 DOI：10．13190／j．jbupt．2013．05．001 微带器件双端 口测试的校准件设计 李秀萍， 任 正， 李 南 (1．北京邮 电大学 电子工程学 院，北京 100876；2．东南大学 毫米波国家重点实验室 ，南京 210096) 摘要 ：通过校准修正矢量网络分析仪全部 12项系统误差 ，利用 Matlab程序实现了SOLT(short、open、load、through) 和 TRL(through、reflect、line)校准算法 ，去除误差项，得到真实的s参数 ．通过与矢网校准结果相对比验证了算法和 程序的正确性，并在此基础上制作了SOLT和TRL微带结构校准件 ，并成功用于滤波器测试 ． 关 键 词 ：校准件 ；系统误差 ；校准算法 ；S参数测量 中图分类号 ：TN702 文献标志码 ：A Calibration StandardDesignBased ontheM icrostripDual-PortTest LIXiu—ping， REN Zheng， LINan (1．SchoolofElectronicEngineering，BeijingUniversityofPostsandTelecommunications，Beijing100876，China 2．StateKeyLaboratoryofMillimeterWaves，SoutheastUniversity，Nanjing210096，China) Abstract：Short、open、load、through(SOLT)andthrough、reflect、line (TRL)calibrationtechniques weredescribed．The12一term system errorsfortwo-portcalibrationwereshown，andtheactualS-parame— tersdevicewasderivedfrom themeasuredS-parametersbyusingmatlab programs．Comparisonbetween thematlabprogramsresultsandthevectornetworkanalyzermeasurementdatavalidatedthecorrectnessof thecalibrationapproachesandprocedures．TheSOLTandTRLmicrostripcalibrationstandardswerede— signedofrmicrostripfiltermeasurement． Keywords：calibration standard；system errors；calibrationalgorithm ；S—parametersmeasurement SOLT和 TRL校准法是 目前矢量 网络分析仪较 序的正确性．设计出加工 SOLT、TRL微带校准件， 为常用 的双端 口校准方法 ，一般在进行器件测量时 并成功用于滤波器测试． 都会利用这 2种方法进行校准．在实际运用 中，由 1 算法理论分析 于实验要求经常进行微带结构而非 同轴结构 的器件 测试 ，所以在利用矢网配备的同轴 SOLT校准件进 系统误差主要是由泄露、失配以及系统频率响 行校准时，会相对产生一定 的误差．因此设计微带 应特性引起的，是