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* * 请注意它们的ring * * 对于M=1的两个器件进行匹配,出于性能考虑往往不要将其merge。 * 当M=2时,可以将其merge,但注意应该加上dummy器件。 Dummy器件栅、源均接衬底电位:若为NMOS则栅端接低电位,PMOS栅接高电位。 但这样做需要修改网表。特别注意,任何版图设计者均不能修改网表内容(表头除外),应交与电路设计者修改。 * * * 任何一点窗口均可带来很大的噪声 * 每根走线都有三种寄生,即:正面、背面、侧面、分别对地和对旁。 应该在刚开始就与designer商议确定哪些地方需要shielding结构。 由于shielding将所有层的金属都用到了,在以后接线的时候,所有的线均不能从该区域跨过。如果shielding的距离过长,对后面的绕线会带来许多不便。因此,如果有shielding结构,一定要最先绕并保证距离尽量短,完成之后再绕其他线。 * * * * Rules for match Device in the same size Two in series Two in parallel Four in parallel Rules for match Choose a middle value for root component Match for R1=4k R2=16k Which one is better? Rules for match Choose a middle value for root component 阻值居中 长度、宽度在精度范围内 所占面积最小 经验值(0.5um): 最窄2um,仅用于无需任何阻值精度要求的大电阻 普通匹配3~4um 高精度匹配5~6um 有精度要求者,方块值最好在6个以上 50~60um左右为佳,太长易断 宽度: 长度: Rules for match Choose a middle value for root component Match for R1=1k R2=100k 应力与共质心 共质心版图是单步减小大范围应力诱发失配最有效的技术。下图中的ABAB结构两个器件的质心没有完全对准,应避免使用。ABBA结构虽然需要加Dummy器件,但其可以很好的减小应力诱发失配的影响。 Dummy resistor 当很多多晶电阻并排摆放时,在阵列边缘的电阻条会受到刻蚀速率变化的影响,电阻朝外的侧壁会很快刻蚀玩,朝内的边刻蚀速率很慢,中间的电阻没有向外的边缘,因此最终宽度会比其他电阻稍大。Dummy resistor添加到匹配电阻阵列的两端,以保证刻蚀的一致性。Dummy resistor的宽度可以比它们所保护的电阻小很多,但是dummy resistor和邻近电阻的间距必须与阵列中电阻的间距匹配。把dummy resistor接地可以消除所有静电调制的可能性。 Rules for match Dummy device for over-etching Pbase电阻:接到地电位 Poly电阻:可作为一个连接通道 可用顶层金属连接,预留修条 Dummy电阻的连接 自身短接 M3 Match the parasitic parameter Rules for match !!!!对精度要求极高的电阻 应该使contact孔和via孔带来的寄生电阻 以及由于金属走线带来的寄生电阻也对应成比例 需要精确匹配的器件之间的缝隙不应该用来走线 金属走线一般不应该大范围的从电阻上方跨过 :在金属化系统的淀积和刻蚀 过程会引入氢,氢通过消除晶粒间界的悬挂键和氢补偿能够影响多晶硅电阻的阻值。若金属走线在电阻上方跨过,各电阻段上的金属覆盖量不同会导致金属化诱发失配。 Rules for match Rules for match Which one is better matched? Something Especial for MOS 请注意ring! Merged Rules for match Implant Implant Source Asymmetry Drain A B Source Drain Drain Something Especial for MOS Rules for match This one is better!!! Something Especial for MOS M=1的两个器件进行匹配一般不要将其merge Rules for match Common Centroid Symmetry Layout(AB BA) Something Especial for MOS M=2,merge 栅、源接衬底电位 网表修改 版图设计者不得自行修改网表! Rules for
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