AFM除导电样品外.PPTVIP

原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的 * * 原子力显微镜在聚合物膜研究方面的应用 学生：李红剑 导师：曹义鸣 大连化学物理研究所905组 Seminar 2 1982 年,Gerd Binnig 和Heinrich Rohrer 共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜( scanning tunneling microscope ,STM), 1986 年,Binnig 和Rohrer 被授予诺贝尔物理学奖。衍生出一系列扫瞄探针显微镜（Scanning Probe microscope） 扫描探针显微镜具有三个传统显微镜无法达到的重大突破 扫描探针显微镜具有极高度的解析力 扫描探针显微镜具有三维立体的成像能力 扫描探针显微镜可以在多种环境下操作 这些显微技术都是利用探针与样品的不同相互作用，来探测表面或界面在纳米尺度上表现出的物理性质和化学性质。 AFM的优点 STM 的探针是由针尖与样品之间的隧道电流的变化决定的, STM要求样品表面能够导电，只能直接观察导体和半导体的表面结构。 对于非导电的物质则要求样品覆盖一层导电薄膜，但导电薄膜的粒度和均匀性难以保证，且掩盖了物质表面的细节。 原子力显微镜利用原子之间的范德华力来呈现样品的表面特性。因此，AFM 除导电样品外，还能够观测非导电样