《电子测试技术下》讲稿.PDF

《电子测试技术下》讲稿 （数字电子实验部分）  2010/2011 学年第二学期 电气与信息工程学院 李 志 勇 电 子 测 试 技 术 （下） 讲 稿  目 次 实 验 一 T T L 集 成 逻 辑 门 的 逻 辑 功 能 与 参 数 测 试 … … … … 3 实验二 组合逻辑电路的设计一…………………………………………………7 实验三 组合逻辑电路的设计二 ……………………………………………10 实 验 四 触 发 器 及 其 应 用 … … … … … … … … … … … … … … 1 4 实 验 五 计 数 器 及 其 应 用 … … … … … … … … … … … … … … … 1 8 实验 六 移 位 寄存 器及 其 应 用 … … … … … … … … … … … … … …2 0 实验 七 时基 电路 的 波形 产 生 与整 形 … …… … … … … … … … … …2 2 实 验 八 数 电 实 验 考 试 … … … … … … … … … … … 说明： 1. 教学时数：16；教学对象：电气、电子、通信等专业； 2．教学内容：电子测试实验内容 3.课程教材： 《电子测试技术》 金维香、谢玉梅.长沙：湖南大学出版社，2008.10 4. 其它参考文献： ①康华光. 《电子技术基础》. 北京：高等教育出版社，1999 ②刘 辉. 《电子仪器与测量技术》. 合肥：中国科学技术大学出版社，1992 ③陈北仁. 《电子技术基础实验研究与设计》. 北京：电子工业出版社，2000 2  电 子 测 试 技 术 （下） 讲 稿  TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 重点介绍： 1. 常用 TTL 芯片 74LS 系列和 COMS 芯片 74HC 系列的主要特性：使用电源、速度、功耗； 2. 集成芯片引脚的排列顺序及识别方法（结合指导书附录中常用集成电路引脚排列来介绍）； 3. TTL 门电路传输特性的测试。 一. 实验目的 1. 了解芯片的种类、特点、工作电源及引脚判别方法，并学会阅读芯片相关资料。 2. 了解 TTL 集成门电路各参数的意义，加深对逻辑门功能的认识； 3. 掌握 TTL 集成门电路的参数测试方法； 4. 根据测试结果判断器件的性能好坏。 二. 原理说明 在数字电子技术中，0和 1 可以构成不同的组合，从而构成不同的逻辑门，譬如：与门、非门、 或门、与非门等等。这些门可以由三极管和电阻等元器件构成，也可由 CMOS 管和电阻等元器件构 成。若以三极管为核心而集成的芯片就得到 74LS 系列的芯片，比如：74LS20。若以 CMOS 管为核 心而集成的芯片就得到 74HC 系列，比如 74HC20。74LS 系列和 74HC 系列的芯片的不同主要体现 在 2 方面：1.  电源不同。74LS 系列的芯片一般都采用 5V 直流电源。当然也有例外，比如运放芯 片需要±12V 或±15V 的直流电。碰上这种情况，芯片资料上会有特别说明，如无特别说明，就采 用 5V 直流电源，否则会损坏芯片。74HC 系列的芯片电源范围比较广，在 3.3V~30V 间都可工作。  2.  速度不同。74HC系列的芯片其运行速度要高于 74LS 系列的芯片。 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，本实验采用双 4 输入与非门 74LS20 芯片进行测试。74LS20 芯片是二 4 与非门的芯片（见附录）。第一个“二”表示一个芯片内有两个 与非门，第二个 “4”表示每个与非门有 4 个输入端。其原理电路、逻辑符号和管脚排列如图 1 所示。 图 1    74LS20 芯片原理电路、逻辑符号和管脚排列图 集成电路 DIP 封装芯片引脚排列判断方法：以 74LS20 为例，正对芯片印字面，使芯片有缺口的 一端朝左，然后从芯片左下脚开始，逆时针方向数，下排引脚从左往右编号为 1∽7，上排引脚从右 往左编号为 8∽14 脚。7