基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法.PDFVIP

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2017-06-24 发布于天津
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基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法

2 Vol. 28 No. 2 2000 2 ACTA L CTRONICA SINICA Feb. 2000 黄祖兰, 叶以正 ( , 150001) : , , . , , , , . ISCAS 89 , . : ; ; ; + : TN79 1 : A : (2000) An Retimingbased Indirect Test Generation for PerformanceDriven Control Logic HUANG Zulan,Y Yizheng (Microelectronic Center, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China) Abstract : Since high performance control logics are usually hard for nonscan test generation,DFT structures could be embed ded as offsets in tradition,while itwill cause manufacturing cost increase and performance overhead. In this paper, an indirect test gen eration method based on retiming is proposed,which could dramatically reduce the cost of nonscan ATPG without any loss of original optimized attributes. xperiments on some ISCAS 89 benchmarks show the benefits of our approach in enhancing ATPG of perfor mancedriven logic. Key words: ATPG;retiming;density of encoding;easytotest structure , 1 ; , VLSI , [ 3] . IC . 1995 , T. . Mar . chok ( density of encoding) , ,T. .Marchok [ 1,2] . , ( density of encoding) ATPG [ 1, 2] , .D ,