硅酸盐矿物氧同位素组成的激光分析-中国地质科学院.PDFVIP

第 卷第 期 ’# ! 地学前缘（中国地质大学，北京） DME6’# *M6! 年 月 !## ( （ ， ） 7UC6 !## V4CKQ WPFJPF ,CMJKFCL %QJ4 XJIFCLKG MN BFMLPFJPFL 3FYJ= !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 硅酸盐矿物氧同位素组成的激光分析 龚 冰， 郑永飞 （中国科学技术大学 地球和空间科学学院，安徽 合肥 !##!$ ） 摘 要：对于红外激光系统和紫外激光系统，由于它们加热样品的反应机理完全不同，决定了它们在 稳定同位素地球化学分析中的不同使用范围。根据对% 激光系统分析地球化学样品的实践，发现 ! 对结果产生干扰的因素有：（ ）石英的粒径效应；（ ）微量样品接收电压过低；（ ）分子筛的吸附能 ’ ! ’( ’+ - ’. 力；（ ）系统中的吸附水；（ ） 对 值的影响。由于石英的粒径效应而导致细粒石英（粒径 ( ) * , ! / !)# 0）的 ’1 值偏低，可以采用不聚焦激光的快速加热法来解决。由于样品量太少而决定了样 ! ! 品气体接收电压过低，导致 ’1 值出现系统偏高或偏低，可以利用校正曲线对结果进行校正。分子 ! 筛吸附性能的下降会产生氧同位素的分馏，因此确定分子筛的使用寿命非常重要。系统中的吸附水 利用氟化物试剂预氟化来去除，重要的是应避免在预氟化的过程中产生大量的2, 腐蚀激光系统的 34, 窗口玻璃并与部分矿物样品发生反应。 ! 关键词：激光分析；氧同位素；矿物；粒径效应；接收电压；分子筛；预氟化 中图分类号： - ； 文献标识码： 文章编号： （ ） 5)+.6 ! 5).)6+ 7 ’##) !!’ !## #! #!.+ #1 ［］ ’ ［］ 自从常规五氟化溴方法 建立以来，对硅酸盐和 光分析系统( 、 （镀 钇铝榴石）激光分析系 *@;A7B *@ ［］ 金属氧化物矿物中氧同位素组成的精确分析已经得 ) 激发式激光分析系统和 激发式激 统 及8C, 7C, ［］ 到广泛引用，因而大大促进了氧同位素地球化学的发 光分析系统$