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國立中興大學貴重儀器中心 振動光譜顯影系統管理辦法 Imaging System for Vibrational Spectroscopy 儀器說明 系統主要功能(MV-4000 two-probe system)：原子力顯影功能(Atomic Force Microscope，AFM)；針尖增強拉曼光譜顯影功能(Tip-enhanced Raman Scattering，TERS)；共軛焦拉曼顯影系統(Confocal Raman Microscope，CRM); 近場光學顯影功能(Near-field Scanning Optical Microscope，NSOM)；霍式紅外光譜共焦平面陣列顯影功能(Focal Plane Array，FPA-FTIR)。本系統為近年才發展出之尖端技術，樣品無須前處理即可測量，除可提供待測物的分子振動能量光譜外，更可同時獲得高空間解析影像圖，克服光學顯影系統空間解析不佳的問題。本系統服務範圍廣泛，涵蓋材料科學、電機、環工、化工、化學、物理、生醫等領域。 廠牌及型號： FPA-FTIR：Bruker Vertex 70V, Hyperion 3000, 64x64 MCT Focal Plane Array AFM：Nanonics MultiView 4000 with Two-Probe system Raman：Andor BWII RAMaker SR-750, NEWTON FPA-FTIR系統配備： 光譜範圍：8000～50 cm-1; 解析度：0.2 cm-1 偵測器：中紅外使用DLaTGS，遠紅外使用PE-DLaTGS，Middle band MCT (600～10000 cm-1); 物鏡：4× 可見光，15× 紅外/可見光，20× ATR紅外/可見光 穿透及反射之白光光源：100 W鎢絲燈源 全自動樣品載台及搖桿配件，工作範圍至少50 mm×75 mm 共焦平面陣列偵測器(Photovoltaic MCT Focal Plane Array Detector)：光譜範圍：900～3900 cm-1 / 4096 pixels, 64×64 / Frame rate ＞1 KHz；使用液態氮冷卻 AFM/Raman/NSOM系統配備： 雷射：HeNe Laser (632.8 nm, 35 mW)/Argon-ion Laser (488/514 nm, 50 mW) /Diode Solid State Laser (532 nm, 20 mW) 掃描平台：Piezoelectric based flat scanner with two probes Scan range：85 x 85 μm; 掃描解析度：X and Y 0.005 nm; Z 0.002 nm 探針：以SPM為基礎提供奈米級工作套件，以玻璃為主體包覆另一金屬材質以利各光譜之應用，包含AFM / AFM-Raman / TERS / NSOM 探針 物鏡：10倍 / 50倍 / 100倍 CCD：影像感測器尺寸5.2 μm×5.2 μm / 解析度1280×1024像素 原子力顯微影像回饋方式：Tuning Fork交流電連指簡諧接觸式回饋 拉曼整合介面： 硬體與軟體之整合，可即時觀察AFM/Raman影像 TERS的拉曼訊號可扣除近場背景影響 雙光學顯微鏡可進行穿透及反射影像擷取 Resolution：至少0.04 and 0.02 nm (1200 and 2400 gr/mm gratings); Pixel Size/ 13.5μm×13.5μm; 拉曼光譜儀焦距長：750 mm; 光譜範圍：200-1050 nm; 三組光柵：(1)1200 G/mm, (2)1800 G/mm, (3)2400 G/mm 服務項目 一般IR and Raman 光譜測量 影像掃瞄: 1. 紅外光譜影像圖; 2. AFM 影像圖; 3. 拉曼光譜影像圖; 4. 針尖拉曼光譜影像圖; 5. AFM/Raman 光譜影像圖; 6. AFM/TERS 光譜影像圖; 7. AFM/NSOM 光譜影像圖; 8. AFM/NSOM/Raman光譜影像圖 收費方式 以現場繳費或匯票為主。匯票抬頭請註明國立中興大學。(現場繳費者可立即取件。匯票繳費者，於收到費用後一週內寄出。) 項目 學術機構 非學術機構 影像測量 基本費用(每半小時) 1500元 2000元 數據圖譜(每張) 50 元 50 元 非影像光譜測量 基本費用(每一樣品) 1000元 1200元 需長時間測量之樣品, 以時間計算費用(每半小時) 1500元 2000元 數據圖譜(每張) 50 元 50 元 學術機構: 基本費用: 15