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半导体特性的调制自由载流子吸收变距频率扫描方法研究!
第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报
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半导体特性的调制自由载流子吸收变距
频率扫描方法研究!
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李 巍! # 李斌成! $
!)(中国科学院光束控制重点实验室,中国科学院光电技术研究所,成都 %!’ )
)(中国科学院研究生院,北京 !(’ )
( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿)
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根据调制自由载流子吸收( , )检测技术的三维理论模型,采用变间距频率扫
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描方式测量单晶硅样品的电子输运参数,进行了仿真与实验,对结果进行了分析;通过多参数拟合,获取了测试样
品的载流子扩散系数、少数载流子寿命和前表面复合速度? 仿真与实验都表明,变间距频率扫描结合多参数拟合,
可以提高输运参数的测量精度?
关键词:调制自由载流子吸收,电子输运参数,变间距频率扫描,多参数拟合
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数拟合同时确定 ,, 等参数 ,拟合结果精
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度不高 ; 等采用在多个频率处做抽运光 探
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测光相对位置的径向扫描曲线和多参数拟合!) !’ ,
半导体电子输运参数(
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