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第一部分:SPC的基本概念 SPC(Statistical process control 統計制程控制):指一套從制程中去收集的資料,而加以統計分析,并以分析中發掘異常原因,立即采取改善正行動,使制程回歸正常狀態的方法. 使用SPC技術,目的:是為了控制制程處于穩定生產狀況,管制制程中的變異減少不良品.不良品的來源,一般是從人員.機械.材料.作業方法.環境等方面產生. SPC常用工具 1.直方圖 2.管制圖 (計量值.計數值) 3.制程能力分析CPK 4.柏拉圖 5.特性要因圖 6.制程流程圖 7.查核表 8.散步圖 9.實驗設計 第一節 CPK 介紹 統計分析基本名詞介紹: 制程能力(CPK) 1.1平均值:指量測或經記錄后之數據,經累加統計后除以總數據,所求得的數值稱為平均值. 名稱 規格(中心)值 實績平均值 符號 μ X 第一節 CPK 介紹(續) 1.2標準差: 規格值 實績值 名稱 符號 名稱 符號 上下限範轉(公差) T 標準差 σ 上限或下限(規格容許差) T/2 3倍標準差 3σ 第一節 CPK 介紹(續) 1.3制程準確度(Ca)及制程精密度(Cp) 1.3.1制程準確度(Ca, Capability of Accuracy): a. 設定規格中心值的目的,在于希望該工程制造出來的實績值能以規格中心值為中心,呈左右對稱的常態分配,而制造時能以規格中心值為目標. b. Ca值即在于衡量制程之實績平均值與規格中心值之 一致性程度,有時被稱為「偏心度」其表示偏離規格中心值之程度. c. Ca之計算公式: 實績平均值-規格中心值 X-μ Ca= ×100%= ×100% 規格容許差 T/2 第一節 CPK 介紹(續) 第一節 CPK 介紹(續) 第一節 CPK 介紹(續) f:Ca等級評定后之處置原則 等級 處理原則 A級 繼續維持現狀 B級 盡能能改善為A級 C級 應即檢討并改善 D級采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產 第一節 CPK 介紹(續) 1.3.2制程精密度(Cp, Capability of Precision): a. 設定工程規格上下限的目的,在于希望制造出來的各個產品特性值, 能夠在規格上下限之容詳範圍內. b. Cp值即在于衡量制程實績值之分散寬度(6σ)符合規格值公差(T)的程度. c. CP之計算公式. 規格公差 T CP= = 或 6個標準差 6σ 規格容許差 T/2 CP= = 3個標準差 3σ 第一節 CPK 介紹(續) d.CP等級判定: 等級 CP值 A 1.33≦CP B 1.00≦CP≦1.33 C 0.67≦CP≦1.00 D CP≦0.67 第一節 CPK 介紹(續) e.Cp等級圖示解說: 第一節 CPK 介紹(續) f.Cp等級評定后之處置原則: 等 級 處理原則 A級 繼續維持現狀 B級 盡可能改善為A級 C級 應即檢討并改善 D級 采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產 第一節 CPK 介紹(續) 1.3.3綜合評價,計算製程能力CPK: 制程要達到規格要求: 1. 必須Ca及Cp均符合規格要求. 2. 有時Ca很好但Cp不好,結果會有不良品 . 3. 有時Cp很好但Ca不好,結果會有不良品. 4. 綜合評價是將Ca與Cp兩者綜合起
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