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                第一部分:SPC的基本概念 SPC(Statistical process control 統計制程控制):指一套從制程中去收集的資料,而加以統計分析,并以分析中發掘異常原因,立即采取改善正行動,使制程回歸正常狀態的方法.  使用SPC技術,目的:是為了控制制程處于穩定生產狀況,管制制程中的變異減少不良品.不良品的來源,一般是從人員.機械.材料.作業方法.環境等方面產生.  SPC常用工具 1.直方圖 2.管制圖 (計量值.計數值) 3.制程能力分析CPK 4.柏拉圖 5.特性要因圖 6.制程流程圖 7.查核表 8.散步圖 9.實驗設計    第一節  CPK 介紹 統計分析基本名詞介紹: 制程能力(CPK)     1.1平均值:指量測或經記錄后之數據,經累加統計后除以總數據,所求得的數值稱為平均值.     名稱   規格(中心)值   實績平均值     符號        μ              X   第一節  CPK 介紹(續) 1.2標準差:      規格值                實績值   名稱                 符號                 名稱           符號 上下限範轉(公差)          T                  標準差           σ 上限或下限(規格容許差)  T/2               3倍標準差         3σ    第一節  CPK 介紹(續) 1.3制程準確度(Ca)及制程精密度(Cp)    1.3.1制程準確度(Ca, Capability of Accuracy): a. 設定規格中心值的目的,在于希望該工程制造出來的實績值能以規格中心值為中心,呈左右對稱的常態分配,而制造時能以規格中心值為目標. b. Ca值即在于衡量制程之實績平均值與規格中心值之 一致性程度,有時被稱為「偏心度」其表示偏離規格中心值之程度. c. Ca之計算公式:       實績平均值-規格中心值		X-μ Ca=  	                      ×100%= 	×100%            規格容許差	                T/2   第一節  CPK 介紹(續) 第一節  CPK 介紹(續) 第一節  CPK 介紹(續) f:Ca等級評定后之處置原則   等級                   處理原則    A級                 繼續維持現狀    B級                盡能能改善為A級    C級                 應即檢討并改善     D級采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產  第一節  CPK 介紹(續) 1.3.2制程精密度(Cp, Capability of Precision):    a. 設定工程規格上下限的目的,在于希望制造出來的各個產品特性值,       能夠在規格上下限之容詳範圍內.       b. Cp值即在于衡量制程實績值之分散寬度(6σ)符合規格值公差(T)的程度.    c. CP之計算公式.       規格公差          T CP=	               =	          或	       6個標準差         6σ         規格容許差       T/2  CP=           	 =    	   3個標準差	     3σ           第一節  CPK 介紹(續) d.CP等級判定:    等級              CP值     A             1.33≦CP     B          1.00≦CP≦1.33     C          0.67≦CP≦1.00      D             CP≦0.67  第一節  CPK 介紹(續) e.Cp等級圖示解說:   第一節  CPK 介紹(續) f.Cp等級評定后之處置原則:           等 級            處理原則       A級           繼續維持現狀       B級          盡可能改善為A級       C級           應即檢討并改善       D級   采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產  第一節  CPK 介紹(續) 1.3.3綜合評價,計算製程能力CPK:  制程要達到規格要求:     1. 必須Ca及Cp均符合規格要求.     2. 有時Ca很好但Cp不好,結果會有不良品 .         3. 有時Cp很好但Ca不好,結果會有不良品.     4. 綜合評價是將Ca與Cp兩者綜合起
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