实验四变容二极管调频器1.ppt

实验四 变容二极管调频器和调频波解调 实验中的注意事项 1、本实验系统接通电源前请确保电源插座接地良好。 2、各实验模块上的双刀双掷开关、拨码开关、复位开关、自锁开关、手调电位器和旋转编码器均为磨损件，请不要频繁按动或旋转。 3、在关闭各模块电源之后，方可进行连线。连线时在保证接触良好的前提下应尽量轻插轻放，检查无误后方可通电实验。拆线时若遇到连线与孔连接过紧的情况，应用手捏住线端的金属外壳轻轻摇晃，直至连线与孔松脱，切勿旋转及用蛮力强行拔出。 4、按动开关或转动电位器时，切勿用力过猛，以免造成元件损坏。 5、未要求调整的电路元件严禁调整。 变容二极管调频实验 实验目的 实验内容 实验原理 实验步骤 实验目的 1.掌握变容二极管调频电路的原理。 2.了解调频调制特性及测量方法。 3.观察寄生调幅现象，了解其产生及消除的方法。 实验内容 1.测试变容二极管的静态调制特性。 2.观察调频波波形。 3.观察调制信号振幅时对频偏的影响。 4.观察寄生调幅现象。 实验电路图 三点式振荡器交流等效图 实验原理－二极管调频获得线性调制的条件 实验步骤--静态调制特性测量 实验步骤--动态测试 1）将电位器W1置于某一中值位置，将DDS输出的1VPP频率1KHZ的音频信号通过TH2输入，将示波器接于TH1端，可以看到调频信号。由于载波很高，频偏很小，因此看不到明显的频率变化的调频波。 2）为了清楚观察FM波，可以将上一步的信号峰峰值改为5V。将S2的“1”拨上，S1的“1”或“2”拨。在TH1用示波器观察，改变W1来改变调制度，可观察到较明显的频偏变化和寄生调幅现象。 实验记录与报告 实验报告要求 1、在坐标纸上画出静态V-f调制特性曲线，并根据测量数据求出该电路的调制灵敏度（？KHz/V）。说明曲线斜率受哪些因素的影响。 2、画出实际观察到的FM波形，并说明频偏变化与调制信号振幅的关系。 3、分析寄生调幅产生的原因，思考并回答消除寄生调幅的方法 调频波解调实验 实验目的 实验内容 实验原理 实验步骤 三、实验原理 上页图为模拟乘法器混频电路，该电路由集成模拟乘法器MC1496完成。本实验中输入信号频率为fS＝5.5MHz(由DDS信号发生器输出)，实验箱自己提供的信号源作为本振信号，其频率fL＝10MHz。 为了实现混频功能，混频器件必须工作在非线性状态，而作用在混频器上的除了输入信号电压VS和本振电压VL外，不可避免地还存在干扰和噪声。它们之间任意两者都有可能产生组合频率，这些组合信号频率如果等于或接近中频，将与输入信号一起通过中频放大器、解调器，对输出级产生干涉，影响输入信号的接收。 干扰影响最大的是中频干扰和镜象干扰。 * * 变容二极管的压控特性曲线和电路符号 (a)电路符号；(b)压控特性曲线 变容二极管压控特性曲线 三点式振荡器 缓冲与放大器 调频即为载波的瞬时频率受调制信号的控制。其频率的变化量与调制信号成线性关系。常用变容二极管实现调频。 设回路电感为L，回路的电容是变容二极管的电容C（暂时不考虑杂散电容及其它与变容二极管相串联或并联电容的影响），则振荡频率为 将电路接成LC压控振荡器（按电路板右上角提示连接），TH2端不接音频信号，将频率计接于TH1处，调节电位器W1，从TP2测量并记下变容二极管D1、D2两端电压和对应输出频率，并记于下表中。 根据数据画出V-f变化曲线 F0(MHz) 11 10 7 6 5 4 3 2.5 2 VD1(V) 一、实验目的 1、了解集成混频器的工作原理； 2、了解混频器中的寄生干扰。 1、研究平衡混频器的频率变换过程； 2、研究平衡混频器输出中频电压Vi与输入本振电压的关系； 3、研究平衡混频器输出中频电压Vi与输入信号电压的关系； 4、研究镜象干扰。 二、实验内容 三、实验原理 四、实验步骤 按下面框图搭建好测试电路 频率计观测输出信号频率 本振输入（实验箱提供） fL=10MHz VLP-P=600mV 射频输入（DDS信号源提供） fs=5.5MHz VsP-P=300mV