用X光测原子序数 - 复旦大学物理教学实验中心Fudan Physics .DOC

X光测原子序数 作者：陈红 【摘要】先用莱宝实验仪确定Moseley定律的常数R与σk，以及衰减系数μ与原子序数Z的关系，通过测量未知元素的吸收边波长λk与衰减系数μ，借助以上所得的两个公式求得该原子的原子序数。本实验以铜为例，分别用以上两种方法进行测量，并比较两种方法的优缺点。 【关键词】X射线，原子序数，衰减系数，Moseley定律 【引言】当X射线通过物质时，其能量分为三个部分：一部分被散射，一部分被吸收，剩余的部分将透过物质。一般地说，因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。因此，可以近似地认为，原子序数大于10时X射线通过物质后其强度的衰减完全是由于物质对它的吸收所造成的。这种衰减的程度可以用吸收系数来表征。关系如下：Ix=I0e-ux 式中I0和Ix分别是入射X射线和透过厚度为x cm 物质后X射线的强度。μ是该材料的衰减系数，d是该材料的厚度。 X光若要电离某一壳层的电子，能量E必须大于该壳层的结合能Ek，即λλk。当波长小于λk而越接近于时，越容易激发电离，因而吸收系数越大；但一旦波长大于λk，吸收系数就会突然下降。因此，吸收系数在λk两侧有一个突变。 把吸收系数发生突变处所对应的波长称为该材料的吸收边。 1913年英国物理学家Henry Moseley在测量 了各种元素的K壳层吸收边后，得到了Moseley 定律： 其中R为里德堡常数，Z为原子序数，σk称 为K壳层的屏蔽系数。（《近代物理实验补充讲义》） 当辐射的波长一定时，不同元素的μ将随元 素的原子序数Z而变。一般来说，吸收也增大， 但是增大到某一元素处突然下降，这是由于吸收 边的关系。在两个跃增之间的连续线段，满足μ∝Z3，它与波长、原子序数总的关系式为μ=κλ3 Z3。 目前测定原子序数的方法有两种：一是用首先由巴克拉提出的散射的方法，一是用由莫塞莱发明的测量元素X射线光谱的方法。（《固体X射线学》） 【实验部分】 一、利用Moseley定律测Cu的原子序数 1.测定Moseley定律的里德堡常数R和屏蔽系数σk 实验结果：在Transmission窗口中用“Draw-kedge”命令分别求Zr、Mo、Ag、In的吸收边，在Moseley窗口下直线拟合得到： R=1.170*107/m σk=4.5 文献参考值：R=1.097373*107/m σk=3.6（对于中等重核） 误差：R:|1.097373*107-1.170*107|/(1.097373*107)=6.6% σk:|3.6-4.5|/3.6=25% 2.测量Cu的吸收边波长并计算其原子序数 因此,Z=σk +（λk *R）-1/2=4.5+(144.1*10-12*1.170*107)-1/2=28.854 误差：|29-28.854|/29=0.5% 二、测定衰减系数μ与原子序数Z的关系并确定Cu的原子序数 用吸收板附件套（编号554834）中的附件2测量（附件2有厚度为0.05cm的六种材料C、Al、Fe、Cu、Zr、Ag的吸收片组成） 得到衰减系数的数据如下： 吸收片 C（6） Al（13） Fe（26） Cu（29） Zr（40） Ag（49） 衰减系数μ 0.02 0.79 17.30 18.72 11.60 15.87 上表中,μ=-㏑（I/I0）/d=-㏑（R/R0）/d 问题：原来认为这样就可以得到衰减系数μ与原子序数Z之间的关系，但是查阅理论资料后发现，μ还与所用的辐射波长有关。在上述情况下，X光的波长不稳定，所以测得的μ势必不准确。 新的问题就是如何得到波长一定的X光源？经过思索和观察实验器材，想到可以利用NaCl晶体在入射角为7.2°和6.5°时得到波长分别为7.11*10-2nm和6.32*10-2nm的X光，这样就可以固定波长,从而求得衰减系数μ与原子序数Z的关系，但因需要安装晶体而不能再使用附件2。从上表可以知道衰减系数μ大致变化趋势：随着原子序数Z的增大而增大，在锆（Zr）时有跃变。 分别用铝、铁、锆、钼、银、铟吸收片进行测量 问题：不难发现，有一条曲线比较特殊（即47号原子锆），它在波长为6.32*10-2nm处在42号钼的下方，而在波长为7.11*10-2nm处发生了跳跃，一下子超过了13号铝。刚开始比较疑惑，后来想到了实验（五），发现锆的吸收边波长正是在68.9pm左右的地方，当波长小于而接近λk时容易激发电离，因而吸收系数大，但一旦波长大于λk，吸收系数就会突然下降，上述结果是与理论吻合的。 计算各元素的衰减系数： 波长 λ=6.32*10-2nm λ=7.11*10-2nm 吸收片 铝 铁 锆 钼 银 铝 铁 锆 钼 银 μ 0.926 14.593 41.673 14.257 17.756 1.056 16.130 10.286