2011年天线年会论文集第13部分.docVIP

相控阵天线远场测试技术 温 刚 张 云 杨顺平 （中国电子科技集团公司第十研究所，成都 610036） wengang2202@126.com 摘 要：本文介绍了相控阵天线几个重要参数的远场测量方法。文章首先介绍了远场测试中需考虑测试距离和周围环境的影响，然后介绍了增益方向图的测试方法以及如何换算得到天线阵面的增益，ERIP测试方法和计算实例，G/T值测试方法和计算实例，该方法具测试简单、可操作性强等技术特点，能完全评估相控阵天线在无线通信系统中的整体性能，可为电路总体设计人员提供一种考核有源相控阵天线技术指标的参考。 关键词：远场测试，增益方向图，EIRP，G/T值 The technology of measuring and testing phased array antennas based on Far Filed WenGang，ZhangYun，YangShunping （） wengang@126.com Abstract: This paper introduces several important parameter measurement methods of the phased array antenna based on Far Filed. It firstly introduces the measurement of distance and the surrounding environment which in the far field tests needed to think about，then introduces the method of antenna radiation patterns and gains measurement and how to calculate the gain. The ERIP array test method，the G/T value test method and their calculation examples is also given. This method is simple and feasible and can fully assess phased array antenna in wireless communication system. It provides a kind of method to measure the parameters of active phased array antenna to circuit designers for reference. Keywords: far field test，，radiation patterns and gainsERIP ，G/T 1 引言 天线特性的研究一般都将理论分析与实际测量结合起来进行，相控阵天线也是如此。相控阵天线理论分析已较成熟，可以直接用做设计和试制的指南。然而，理论分析方法有时也有局限性：一方面，在分析相控阵天线系统时会碰到复杂的甚至较难解决的数学问题；另一方面，在若干假设条件下进行的理论计算，最后往往还需要通过实际测量来验证。因此，相控阵天线参数测量不仅仅是验证理论的工具，而且还是研制新型天线的一种重要手段[1]。 2 远场测试的一般考虑 天线远场测试所要求的特定空间区域一般称为天线测试场。选择和设计这种测试场应考虑：一是收发天线间的测试距离应满足测试要求；二是测试场的环境，特别是待测天线周围的环境（有源和无源干扰）对测试误差的影响应在可接受的范围内。 2.1 远场测试距离 收、发天线间的位置关系如图1所示，由源天线等效相位中心辐射的电磁波经过距离R到达待测天线（接收）口面，以待测天线口面中心为参考，口面边缘的相位差为 图1 收、发天线间的位置关系 （1） 一般取，所得距离成为远场最小测试距离，即 （2） 式（2）中，D通常取待测天线最大口径尺寸，当源天线口径更大时，D选取上述两天线口径的最大值。 在过去很长时间内，有人用来确定收、发天线间的最小测试距离。该式中，d为源天线口径尺寸。但经过理论分析和实验验证后认为：天线波瓣测试的最小测试距离采用比更合适[2]。 采用的远场最小测试距离对一般天线测试是适合的，对-20dB副瓣电平测试所引入的误差约为1dB，对方向性增益测试引入的误差约为0.1dB。 2.2 远场测试对环境的要求 各种类型的测试场对四周环境的要求都是一样的，希望各种机械或电器装置引入的有源干扰要小，四周环境引入的杂散反射要符合要求。四周的杂散信号主要影响水平波瓣形状和水平副瓣电平。如果要测试的副瓣电平为-40dB量级，精度要求±1dB，则要求杂散信号