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超声波探伤中对缺陷定性的探讨
36 Vol36 N o3
2008 6 YUNNAN ELECTR IC POWER Jun2008
李志翔 孙成刚
( () , 650051)
: 结合实际工作中遇到较为典型的缺陷情况, 利用超声波对缺陷性 评定进行研究, 对按 承压
设备无损检验 ( JB /T4730- 200 ) 标准利用超声波对缺陷进行定性提出建议
: 超声波 缺陷性
: TM76 : B : 1006- 7345 ( 2008) 03 - 0039 - 02
1 ,
( JB/T4730- 200 ) 3000MW
, , 2. P 14 14K 1K2
, 40mm , X ,
,
GB1134 - 1989 K2
, ,
, K 1
, ,
1,
,
1 6+ 1dB, 20mm, 220mm,
,
2
18mm, , ,
, X ,
, , , 19 mm
: 3
, ,
, ,
, ,
,
:
,
,
, ,
, P20, 24 ~ 30 mm, ,
: ,
, , ,
, : ,
; , ,
; ,
, ,
: 2008- 04- 20
39
2008 3 36
( JB/T4730- 200 ) ,
,
, ,
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