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Al掺杂对SiC粉体微波介电性能的影响
李智敏 等 :Al掺杂对 SiC粉体微波介 电性能的影响
Al掺杂对 SiC粉体微波介 电性能的影响
李智敏 ,周万城 ,苏晓磊。,罗 发 ,黄云霞
(1.西安 电子科技大学 技术物理学院,陕西 西安 710071;
2.西北工业大学 凝 固技术 国家重点实验室 ,陕西 西安 710072;
3.西安工程大学 机电工程学院,陕西 西安 710048)
摘 要: 采用高温固相反应法,以Al粉和 SiC粉为 99 ,粒度 75~m)按照摩尔配 比 (A1): (SiC)一1:
原料合成 A1掺杂 SiC粉体 。通过 X射线衍射分析和 10进行球磨均匀混 合 ,装入石 墨坩埚 内,置于真空烧
拉曼光谱对合成粉体进行 了表征。结果表 明,当反应 结炉 (锦州三特 ZRSl50)中,以600℃/h的速度分别
温度高于 1900℃时,合成产物 中未 出现 Al的杂质相 。 升温至 1800、1900和 2000。C,保温 1h,炉 内真空度为
在 2000oC时,相对较 多的 Al原子进入到 SiC晶格 形 10Pa。然后随炉冷却至室温制备 Al掺杂 SiC粉体 。
成 Al—SiC固溶体 。在 8.2~l2.4GHz频率范围,采 用 2.2 粉体的表征和介 电性能测试
波导法对未掺 杂和掺杂 SiC粉体的介 电常数进行 了测 利用 PANalytical公 司的 X’PertMPD X射线衍
试 。结果表明,A1原子掺杂形成 Al—SiC固溶体 ,可以 射仪 (X—raydiffraction,xRD)分析合成粉体的物相组
有效地提 高SiC粉体的微波介电性能。 成 ,采用 Cu靶 Ks射线。用激光拉曼散射仪 (Ren—
关键词 : SiC粉体 ;A1掺杂;固相反应 ;介 电性能 ishawInVia)对合成 的粉体作拉曼分析 ,采用背散射几
中图分类号 : TQ127.1 文献标识码 :A 何配置 ,Ar激光源的激发波长为 514.5nm。
文章编号:1001—9731(2010)增刊 Ⅱ一0331-03 采用波导法对合成粉体在 8.2~12.4GHz频率范
围内的介 电常数进行测试。考虑到石蜡的低介 电损耗
1 引 言
性 ,测试样品由合成粉体和石蜡组成 。即将质量 比为
碳化硅具有硬度高、耐化学腐蚀、抗氧化性 能好、 7O 的测试粉体均匀分散在熔融石蜡 中,然后浇铸 到
热膨胀系数小 、热传导率高及半导体性等优异性能 ,在 铜质法兰中制得样品 ,样 品尺寸为 :1O.16mmX22.86
结构材料和高温电子器件方面有着许多应用[1]。近 mm ×2mm,测 试 设 备 为 矢 量 网络 分 析 仪 (Agilent
年来 ,电子和通讯系统 引起 的电磁污染增加 了 SiC在 TechnolOgiesE8362B)。
微波损耗材料领域 的研究_3“]。但是 SiC本身几乎不 3 结果与讨论
具备吸波性能,通过掺杂的方法可以改变其介 电性能,
使其具有一定的微波损耗能力。赵东林等 利用激光 3.1 合成粉体的物相和结构分析
法制备 了 n型掺杂 的纳米 SiC/N 粉体 ,其在 8.2~ 图1是 SiC原料粉体和 1800、1900和2000oC温度
12.4GHz频段显示 了较好的介 电损耗性能 ,证 明了掺 合成粉体 的x射线衍射图谱。可 以看出,实验采用 的
杂提高 sic微波介 电性能的可行性 。 SiC粉体原料包含有立方 口一SiC(3C—SiC)和 a—SiC(6H—
由于Al原子和 SiC晶体中的 si原子具有相近 的 SiC)相 。1800℃固相 反应产物 中除了 la-SiC和 d—SiC
共价半径和 电负性 ,而且 Al
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