光纤光栅非平衡M-Z干涉解调技术研究详解.pdfVIP

光纤光栅非平衡M-Z干涉解调技术研究1 李丽，林玉池，王为，朱萍玉 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室，天津 （300072） E-mail：green_linda@163.com 摘 要：介绍了一种基于直流相位跟踪零差法的非平衡 Mach－Zender 干涉解调系统的工作 原理，设计了一套光纤光栅解调系统，通过实验分析了该系统的应变精度为 8.17　10-3µ ε； 并对压电陶瓷产生的振动信号进行了检测，取得了很好的实验效果。实验结果证明它有良好 的动态性能，适合于精密测试中动态信号的检测。文中讨论了影响解调精度的主要因素。 关键词：光纤布拉格光栅 非平衡 Mach-Zehnder干涉仪 相位检测 解调精度 振动测试 中图分类号：TP212.14 1．引言 对于空间尺寸和工况受限制的机械系统的精密测试中,需要检测完整的应力波波形对物 理过程进行分析和对模型进行修正完善,或对测试对象状态实施实时的状态监测和诊断（如机 械结构），尤其是利用测试结果对构件进行设计（如防护工程中的抗冲击部件和冲击类部件）。 但是随着机械结构的高速化、多功能化、以及各种新材料的应用，对测试系统的要求越来越 高，传统的电测系统已经凸显其局限性。而光纤光栅作为一种新型的光无源传感器件，具有 体积小、抗电磁干扰、抗腐蚀、对应变有良好的灵敏度、易于构成传感网络等特点，使得其 在机械系统的精密测试中有着广泛的应用前景。 光纤光栅是波长调制型传感器，精确解调出光纤光栅布拉格波长的漂移量是光纤光栅传 感器应用的核心技术。目前常用的波长解调方法可分为两大类：干涉法和滤波法。其中干涉 法是将光纤光栅的波长信息编码转换成相位编码，具有很高的精度和分辨率，主要有 Mach－ Zehnder（M-Z）干涉解调法和 Michelson 干涉解调法两种[1] 。其中 Mach－Zehnder 干涉解调 法具有分辨率高，响应速度快，结构简单等特点，使得其非常适合机械系统中应力波的检测。 鉴于光纤光栅在机械部件应力波检测中的广泛应用前景，详细介绍了光纤光栅非平衡 M-Z 干涉解调法和零差相位检测法的工作原理，理论上分析了影响光纤光栅非平衡 M-Z 干涉 解调系统解调精度的因素及其测量方法。并以自制的非平衡 M-Z 干涉解调系统为基础，通过 实验测得解调系统的相位检测精度可达 1.47ⅹ10-4 -3 rad，应变精度为 8.17ⅹ10 µε，并用该 系统检测了由压电陶瓷产生的振动信号，取得了较好的实验效果。 2．解调系统工作原理 2.1 非平衡 M-Z 干涉法的解调原理 非平衡 M-Z干涉解调法是 1992 年由A.D.Kersey等人提出来的，其原理如图 1 所示。宽 带光源通过3dB耦合器入射到传感光纤光栅上,其反射光经过两个3dB耦合器进入不等臂长的 1本课题得到教育部博士点专项科研基金项目（20030056017 ）的资助。 1 M-Z 干涉仪。由干涉仪原理可知，光电探测器检测到的干涉仪输出光强为： I A 1+k cos ϕ(λ) +φ{ [ ]} (1) 其中ϕ(λ) 2πnd / λB 为干涉仪不等臂长引起的相位差，n 为光纤的有效折射率，d 为 M-Z 干 涉仪的原始臂长差，λ 为光纤光栅的中心波长；A 为输出直流分量，与输入的光强和系统 B 的损失有关；φ 为环境因素引起的系统随机相位差。当光纤光栅的中心波长发生Δλ 漂移量 B 时，通过干涉仪引起的相位变化量为：