低温形状记忆合金的相变温度变化.pdfVIP

doi：lO．39698．issn．2095—1744．2012．01．009 低温形状记忆合金的相变温度变化 圜 莫 露，万发荣，龙 毅，黄绍松，高 进，陈东升 北京科技大学材料科学与工程学院，北京 100083 摘要：利用低温电阻法、差示扫描量热法 (DSC)、物性测量系统 (PPMS)等手段对马氏体相 变温度为 100K左右的低温Cu—A卜Mn形状记忆合金的相变温度进行了测量，研究了不同热处理 工艺下的相变点变化。结果表明，淬火后的记忆合金相变温度相 比退火后明显降低，而不同的淬 火速率也使Cu—A卜Mn形状记忆合金相变温度有所变化。 关键词：形状记忆合金；Cu—A1一Mn；相变温测量 中图分类号：TG139+．6 文献标识码：A 文章编号：2095—1744(2012)01．0058-05 近年来，形状记忆合金在空间技术、医疗器械、机 1实验方法 械器具、电子设备、能源开发、汽车工业及 日常生活等 领域得到了广泛应用 [1-3]其中Cu—A1一Mn形状记忆合金 装置为实验室 自制低温电阻测量装置，其原理图如 因其成本低、工艺简单且具有优 良的形状记忆性能更是 图 1所示。 得到广泛关注，具有潜在的商业价值 4[-6]。Cu．A1．Mn形 状记忆合金的相变点是其重要性能指标之一，它决定了 形状记忆合金器件的工作环境，因而低温形状记忆合金 相变点的精确测量，对其实际应用具有重要意义。 马氏体相变温度Ms在 100K附近的低温形状记忆 合金可以应用于节流制冷器，通过其随温度变化而表 现出来的形状记忆特性来对制冷器针阀机构进行开度控 制，进而实现制冷流量参数 自调的 目的。这样的节流 制冷器具有结构简单、装调方便及寿命长等特点 [。但 是，制冷器中使用的形状记忆合金对相变温度的要求很 高，一般为 100K±5K。因此，准确地测定低温形状记 忆合金的相变温度 以及确定影响其相变温度的因素非常 重要。 图1自制低温电阻测量装置原理图 利用低温测电阻装置、差示扫描量热法 (DSC)对 低温 Cu．A1．Mn形状记忆合金升温及降温过程中的相变 该实验装置采用四线法直流 电阻测试。待测样品的 点进行测量。本实验分别采用实验室 自制的低温测电阻 外端为电流输入端，通过恒流源输入一个不随负载电阻变 装置、差示扫描量热法 (DSC)以及综合物性系统 (PPMS) 化的稳定电流；内端为电压端，通过数字微伏电位差计来 测定了所制的低温形状记忆合金的相变点，并对测定结 果进行分析。 作者简介：莫露 (1987-)男，江西吉安人，硕士研究生。 58 工程进展 EngineeringImprovement 测量由于电阻变化引起的微小电压变化。因为样品的电阻 置可以认为是M。(A。)点。 值很小，所以采用四端接线以避免导线电阻及接触电阻 对实验造成的误差。装置采用Ptl00铂 电阻作为温度传感 器，通过用数字万用表测量铂电阻阻值的变化来测量温 度。铂电阻和待测样品装在一个紫铜样品架上，利用紫铜 的高导热性，以保证实验过程中铂电阻和样品温度的一致 性。样品架外有双层套管，以保证降温过程中温度变化平 稳。在测试过程中，万用表采集的温度信息和 电位差计 采集的电阻变化信息通过RS232COM端 口同步输入计算 机，由计算机程序记录数据并画出电阻温度曲线 8【】。样品 架放入液氮瓶，通过调节样品架在液氮瓶中离开液氮面的 距离，使试样温度在 77K至室温之问变化。 差示扫描量热法 (DSC)是在程序温度控制下测量 图2 l#样品降温过程电阻曲线 物质与参比物之间单位时间的功率差