实验一高频小信号调谐放大器实验.介绍.doc

实验一 高频小信号调谐放大器实验 实验目的 掌握高频小信号谐振电压放大器的电路组成与基本工作原理。 熟悉谐振回路的调谐方法及测试方法。 掌握高频谐振放大器处于谐振时各项主要技术指标意义及测试技能。 实验内容 谐振频率的调整与测定。 主要技术性能指标的测定：谐振频率、谐振放大增益Avo、通频带BW0.7、矩形系数Kr0.1。 实验仪器 实验原理 单调谐小信号放大器 图1-1 单调谐小信号放大电路图 小信号谐振放大器是接收机的前端电路，主要用于高频小信号或微弱信号的线形放大。图1-1为单调谐回路小信号谐振放大器的原理电路，实验单元电路由晶体管N1和选频回路T1组成，不仅对高频小信号放大，而且还有选频作用。其中W1,R5,R6,R7为直流偏置电阻（因与C3并联相接,所以C3仅有直流负反馈作用），同时调节W1可为放大器选择合适的静态工作点。C5为输入信号的耦合电容，E4,C3,C5为旁路滤波电容，R1为中周初级负载。C1与电感L组成并联谐振回路，调节C1或改变中周T1磁芯的位置可以使回路谐振在信号中心频率上。本实验中单调谐小信号放大的谐振频率为fs=10.7MHz。因此频率为10.7的小信号自C5耦合输入，经选频、放大后，中周次级将获得最大输出。 放大器各项性能指标及测量方法如下： 1、谐振频率 放大器的调谐回路谐振时所对应的频率f0称为放大器的谐振频率，对于图1-1所示电路（也是以下各项指标所对应电路），f0的表达式为 式中，L为调谐回路电感线圈的电感量； 为调谐回路的总电容，的表达式为 式中， Coe为晶体管的输出电容；Cie为晶体管的输入电容；P1为初级线圈抽头系数；P2为次级线圈抽头系数。 谐振频率f0的测量方法是： 用扫频仪作为测量仪器，测出电路的幅频特性曲线，调变压器T的磁芯，使电压谐振曲线的峰值出现在规定的谐振频率点f0。 2、电压放大倍数 放大器的谐振回路谐振时，所对应的电压放大倍数AV0称为调谐放大器的电压放大倍数。AV0的表达式为 式中，为谐振回路谐振时的总电导。要注意的是yfe本身也是一个复数，所以谐振时输出电压V0与输入电压Vi相位差不是180o 而是为180o+Φfe。 AV0的测量方法是：在谐振回路已处于谐振状态时，用高频电压表测量图1-1中输出信号V0及输入信号Vi的大小，则电压放大倍数AV0由下式计算： AV0 = V0 / Vi 或 AV0 = 20 lg (V0 /Vi) dB 3、通频带 由于谐振回路的选频作用，当工作频率偏离谐振频率时，放大器的电压放大倍数下降，习惯上称电压放大倍数AV下降到谐振电压放大倍数AV0的0.707倍时所对应的频率偏移称为放大器的通频带BW，其表达式为 BW = 2△f0.7 = f0/QL 式中，QL为谐振回路的有载品质因数。 分析表明，放大器的谐振电压放大倍数AV0与通频带BW的关系为 上式说明，当晶体管选定即yfe确定，且回路总电容为定值时，谐振电压放大倍数AV0与通频带BW的乘积为一常数。这与低频放大器中的增益带宽积为一常数的概念是相同的。 通频带BW的测量方法：是通过测量放大器的谐振曲线来求通频带。测量方法可以是扫频法，也可以是逐点法。 扫频法的测试： 将BT-3频率特性测试仪射频输出电缆（即扫频电压输出端）与检波探头相接，找到零频点并对频率特性测试仪的Y轴放大器进行零分贝校正，将“输出衰减”置为“0Db”,调节Y轴“增益”旋钮，使显示屏的方框占有一定的高度h（如5格），调节中心频率刻度盘，使10,7MHz频点位于显示屏中心。 BT-3频率特性测试仪的射频输出电缆接小信号谐振放大器的信号输入端，实验板输出测试端与频率特性测试仪的检波探头相接。微调中心频率刻度盘，使显示屏上显示出放大器的“幅频特性曲线”，改变“输出衰减”按钮，使其幅度适中，用绝缘起子慢慢旋动变压器磁芯或CCA2,使中心频率F0=10.7MHz. 逐点法的测量步骤是：先调谐放大器的谐振回路使其谐振，记下此时的谐振频率f0及电压放大倍数AV0然后改变高频信号发生器的频率（保持其输出电压VS不变），并测出对应的电压放大倍数AV0。由于回路失谐后电压放大倍数下降，所以放大器的谐振曲线如图1-2所示。 可得： 通频带越宽放大器的电压放大倍数越小。要想得到一定宽度的通频宽，同时又能提高放大器的电压增益，除了选用yfe较大的晶体管外，还应尽量减小调谐回路的总电容量CΣ。如果放大器只用来放大来自接收天线的某一固定频率的微弱信