电镜显微分析——汇总版.pptVIP

原子力显微镜Atomic Force Microscopy 这里，常常使用PI反馈（proportional-intergeral feedback）控制成像过程。 P：proportional，比例的意思，在PI中称为P gain(比例增益)。 I：intergeral，积分的意思。在PI中称为I gain(积分增益)。 设定点（setpoint）与实际值之间的差值被用来作为改变微悬臂高度的依据。积分增益控制所用到的时间值和比例增益所用到的比例值决定了如何更新高度的位置。 这两个值控制了系统以多快的速度对样品的高度变化做出反应。扫图时需自行优化这两个参数。 AFM head——最重要的部分 2.物理吸附（粘附）法主要包括多聚赖氨酸静电吸附法和琼脂糖凝胶固定法。在生理条件下细胞一般带负电荷，而多聚赖氨酸带正电荷，因此可以利用多聚赖氨酸与细胞之间的静电吸引作用固定细胞。这种固定方法操作简单且重复性好，是目前为止使用最多的一种方法。不过， 由于多聚赖氨酸与细胞壁存在一定的相互作用， 因而对细胞结构还是存在一定的影响。 3.机械捕获法是指将细胞固定于多孔聚合物膜中，利用聚合物膜上的微孔来固定细胞， 这种方法对细胞样品几乎没有任何损伤，特别适合于进行细胞活体、动态过程等方面的研究。然而，操作过程中对细胞密度，聚合物膜的孔径大小以及挤压力都有一定的要求。 AMF图像分析 步宽因素 原子力显微镜图像由许多点组成，其采点的形式如图所示。扫描器沿着齿形路线进行扫描，计算机以一定的步宽取数据点,以每幅图像取512* 512数据点计算，扫描1 μm *1 μm尺寸图像得到步宽为2nm (1μm／512)，高质量针尖可以提供1～2 nm的分辨。由此可知，在扫描样品尺寸超过1 μm *1 μm时，AFM的侧向分辨率是由采集图像的步宽决定的。 针尖因素 AFM成像实际上是针尖形状与表面形貌作用的结果，针尖的形状是影响侧向分辨率的关键因素。 针尖影响AFM成像主要表现在两个方面：针尖的曲率半径和针尖侧面角，曲率半径决定最高侧向分辨率，而探针的侧面角决定最高表面比率特征的探测能力．如图所示，曲率半径越小，越能分辨精细结构． AFM假象及产生假象的原因 在所有显微学技术中，AFM图像的解释相对来说是容易的。光学显微镜和电子显微镜成像都受电磁衍射的影响，这给它们辨别三维结构带来困难．AFM可以弥补这些不足，在AFM图像中峰和谷明晰可见．AFM的另一优点是光或电对它成像基本没有影响，AFM能测得表面的真实形貌．尽管AFM成像简单，AFM本身也有假象存在． (1) 针尖成像 AFM中大多数假象源于针尖成像．如图所示，针尖比样品特征尖锐时，样品特征就能很好地显现出来。相反，当样品比针尖更尖时，假象就会出现。这时成像主要为针尖特征． (2)钝的或污染的针尖产生假象 钝的或污染的针尖产生假象：当针尖污染或有磨损时，所获图像有时是针尖的磨损形状或污染物的形状．这种假象的特征是整幅图像都有同样的特征。 当针尖有污染时会导致针尖变钝(图)，使得图像灵敏度下降或失真，但钝的针尖或污染的针尖不影响样品的垂直分辨率．样品的陡峭面分辨程度决定于针尖的侧面角大小．侧面角越小，分辨陡峭样品表面能力就越强，图5说明了针尖侧面角对样品成像的影响。 (3)双针尖或多针尖假象 双针尖或多针尖假象：这种假象是由于一个探针末端带有两个或多个尖点所致．当扫描样品时，多个针尖依次扫描样品而得到重复图像． (4)样品上污物引起的假象 样品上污物引起的假象：当样品上的污物与基底吸附不牢时，污物可能校正在扫描的针尖带走．并随针尖运动，致使大面积图像模糊不清． AFM的应用 一.AFM成像技术的应用 1.材料的表征 2.生物分子研究中的应用 3.细胞成像 （1）细胞基本形态及表面结构的表征 （2）研究外因对细胞形态及表面结构的影响 （3）细胞生理状态的动态监测 二.AFM力值测定技术的应用 1.生物分子间相互作用研究 2.细胞力学性能研究 三.AFM在纳米操纵方面的应用 一. 成像技术 1.材料表征：纳米颗粒和纳米材料 2.生物分子研究 （1）核酸分子成像; （2）蛋白质形貌的测定; 3.细胞成像 （1）细胞基本形态及表面结构的表征 （2）研究外因对细胞形态及表面结构的影响 （3）细胞生理状态的动态监测 纳米材料和纳米颗粒的表征 金容等发展了利用不同尺寸的金