异步光学采样系统 - Menlo Systems.PDFVIP

ASOPS 异步光学采样系统 关键规格 ■ASOPS TWIN ：1560 nm ■DUAL COLOR: 780 nm 或 1560 nm ■时间测量窗口 4 ns 或 10 ns ■重复频率 250 MHz 或 100 MHz 应用 ■双色场泵浦-探测光谱学 ■太赫兹时域光谱学 ■材料特性表征 特色 ■数据采集时间更快 ■更宽的时间测量窗口 ■无需可移动机械扫描元件 在时间分辨测量过程中利用一个超快光脉冲触发样品反应，再由第二个脉冲来 (光束指向性更好,扫描速度更快) 记录反应导致的变化。通过改变探测脉冲对于泵浦脉冲到达样品的时间差可对 ■ASOPS 控制软件 受激过程实时跟踪。无需机械延迟线的异步光学采样技术能支持在纳秒量级延 通过图形化用户界面可对ASOPS 的 电路进行完全控制，XML-RPC界面 时窗口内实现高速扫描。这一技术得益于可将产生超快泵浦和探测脉冲的两个 允许进行远程控制，并包含计算机 激光器相位锁定在一起，并且两者重复频率差可调谐。 和计数器。 两个激光器也可被锁定在相同的重复频率处，通过改变两束脉冲的相位差，可 以实现在更短时间窗口内，比如100 ps的测量。两种工作模式之间可以一键切 可选配件 换。 ■VARIO 自定义重复频率 出厂设置值可以在50-250 MHz之间选择 ■MULTIBRANCH A S O P S T W I N 2 5 0 L A S E R H E A D S 额外的种子光源输出端口 可选不同的频率转换器以覆盖多个波 长，来作为多种放大器的种子光源 ASOPS 异步光学采样系统 规格参数