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2013年Q1北区述职报告 Copyright © 2014 BMDT OLED一般光学特性以及测试方法 MA SBU QRA BMDT QE-吴凤冉 OLED 基本光学特性 OLED发光原理及构造 OLED在发光原理及显示器驱动方式等皆与LED十分相似，主要利用电流使电子及电洞分别由正、负极出发，并注入两个电极间(阳极为ITO导电玻璃模、阴极则有Mg、Al、Li等金属)的有机薄膜区因相遇而产生发光现象(发光的颜色取决于有机发光层的材料)。该有机薄膜区包括电子传递层、有机发光层、电洞传递层、电洞注入层。「电洞传递层」是部分厂商为增加有效率的发光现象而增设，负极与发光层间增加的「电子传递层」是为了增加有机材料发光亮度与量子效率，以及降低起动电压 OLED 基本光学特性 OLED 光学特性测试方法测试设备 1、反射特性测量 A、测试半球漫反射系数 1） 在暗室条件下，显示屏调整为黑场0%灰度等级，测试显示屏中心的光谱辐射强度SK(λ)和亮度LK。测试位于显示屏偏离显示屏法线方向8-10°的相应位置（如图）。对于光谱测量，黑场亮度LK根据下式计算： （其中V(λ)为CIE 15中定义的光谱光视效率）…………………………（1） 2) 在暗室条件下，调整输入信号使显示输出100%白场。对于自然静态图像和视频，在100%白场下的4%窗口用于评价对比度。4%窗口应为显示区域的宽和高的1/5，并位于显示屏中心。当使用突出测量时，测试报告中应注明。测试白场中心的光谱辐射强度SW(λ)或亮度。对于光谱测试，白场亮度可由式(1)计算得到。 OLED 光学特性测试方法测试设备 3) 如图1，将显示屏置于积分球或采样球内，设置显示屏至100%白场状态，打开积分球或采样球内的半球漫射照明至指定的色温，等待其稳定。 4) 测试校正白板的光谱辐射强度Sstd,W(λ) 或亮度 Lstd,W 。对于采样球，Sstd,W(λ)或Lstd,W 为校正后的值，分别从采样口测得。对于光谱测量，白板和显示屏的光谱辐照度Ehemi,W(λ) 由下式得到： ………………（2） 其中ρstd(λ) 是已知的同一几何条件下白板光谱反射比，一个利用光度等效值的近似公式可用于计算照度Ehemi,W，对于光谱测量，显示屏上的照度Ehemi,W 可由下式计算得到 …………（3） 5) 使测试仪器与显示屏法线成8-10°角度，打开显示屏和球内照明，测量显示屏中心的光谱辐射强度Shemi,W(λ)或Lhemi,W。对于光谱测量，照明条件下的白场亮度Lhemi,W可由式（1）求得。 6) 对于光谱测量，利用下式计算亮场条件下半球漫反射比ρW(λ) …………（4） 其中E(λ)是指定照明条件的相对光谱分布，对于给定色温的日光照明光谱分布，遵照CIE 15的关系： 7) 将显示屏置于黑场，测试亮室黑屏中心的光谱辐射强度Shemi,K(λ) 或亮度Lhemi,K。对于光谱测量，亮室黑屏亮度Lhemi,K 可用式(1)计算得到。黑屏照度Ehemi,K用式(2)和式(3) 通过标准白板或采样球壁的光谱辐射测试测得。对于度测量，照度Ehemi,K用式(2)等效光度通过标准白板的亮度Lstd,K计算得到。 8) 对于光谱测量，利用下式计算亮室黑场的半球反射比ρK(λ) ： 注：对于光度测量，式 的近似关系用于测得暗场的半球漫反射比。 OLED 光学特性测试方法测试设备 B、直射光下的反射系数测量 1）将光测量仪器垂直对齐显示屏。对于暗室条件下暗场屏幕，测量0%灰色等级显示屏中央的光谱辐亮度Lk(λ)或亮度Lk。对于光谱测量，暗场屏幕亮度Lk可使用等式（1）计算。 2）设置到显示屏的测试输入信号以产生白场屏幕（100%灰色等级）。对于自然静态影像和视频应用，也可使用100%灰色等级处的4%区域窗口以表征显著对比度。4%窗口应为有效显示区域的1/5宽度和高度大小，并位于显示屏的中央。当使用其测量时，应在报告中注明。测量暗室条件下白色图案中央处的光谱辐亮度Lw(λ)或Lw。对于光谱测量，使用等式（1）计算白色显示亮度Lw。 3）将直射光源定位在室内或日光照明条件界定的几何位置。通常，应使用直射光源的几何条件，除非显示屏显示强烈的矩阵散射。打开直射光源至期望的相关色温，待光源稳定。调整光源强度使得显示屏反射的光在光测量仪器处产生强烈信号。移除显示屏且将标准漫反射白板放置在光测量仪器相同测量面板处。 4）测量所校准的标准漫反射白板的光谱辐亮度Sw-di