halt 定量可靠性评估专题研讨会 - 华测检测.pdfVIP

HALT 定量可靠性评估 专题研讨会 主办方：CTI华测检测 深圳 2015.8.20 温馨提 示： 研 讨会免费， 请携带名片 入场 课程介绍 鉴于当今企业的实 际需求和现有产 品可靠性评估方法 的缺 陷，企业对于产 品 可靠性评估方法 的突破有着迫切的需求 。综合 国内外最新可靠性评估方法 的发 展，HA LT定量可靠性评估是 唯一 的亮点 。HA LT定量可靠性评估对样 品数量要求 少 、试验 时间段 、计算精度高， 它是对现有可靠性评估方法 的重大突破，完美 解决了企业的实 际需求，其必将会成为产 品可靠性评估 的第一选择 。 您可以通过此次研讨会来详细了解HA LT定量可靠性评估 的原理 、计算精 度 、国内外应用现状 、实施流程和具体 的注意事项，从而建立对HA LT定量可靠 性评估 的价值和基本知识 。 本次研讨会将专 门预留足够 的时间和大家进行现场讨论，为企业答疑解惑， 如果您带上 问题会有更多收获 。 讲师介绍 卢 申林： 华测检测可靠性技术顾 问。14 +年专职可靠性工作经验， 自200 1年 起先后在台湾企业 、中美合资企业 、美资企业和 欧洲企业专职从事可靠性工 作 。负责 的产 品有半导体芯片、笔记本 电脑 、台式机 、服务器 、数据存储产 品、路 由器 、交换机 、PDA、硬盘播放器 、光纤到户终端产 品和 医疗产 品（如 CT、核磁共振 、X光机和超声）等 。对产 品全寿命周期可靠性工作有着深入 的理 解（如现场失效数据分析 、产 品可靠性指标定义 、可靠性分配、可靠性设计 （失效影 响分析 、可靠性预计 、降额设计） 、试验设计 、可靠性增长、强化试 验 、可靠性试验 、环境试验 、环境应力筛选 、预 防性维修定义和寿命周期成本 等） 。对于产 品（ 电子，机械 、机 电和软件） 的全寿命周期可靠性有着丰富的 经验 。曾为 四方股份 、江森 、惠普、施耐德 、英飞特 、宏英智能 、提供可靠性 顾 问、咨询和培训服务 。 200 1年： 毕业后开始从事可靠性工作至今 2004年：作为第二作者编写 出版 《印制 电路板可靠性 》 200 5年：创建可靠性家 园网 () 20 10年：开设摩西的可靠不可靠博客 () 20 11年：上海 电子学会可靠性专业委员会副主任委员 20 13年： 中国质量协会可靠性推进工作委员会委员 20 14年：提交三份可靠性发 明专利，专利 审核 中 20 15年：提交一份可靠性发 明专利，专利 审核 中 W E A SSURE Y OUR EX CELLENCE! htt p://www .ct i-cert .com 邀请嘉宾：邀请嘉宾： 研发经理、可靠性经理、质量经理、可靠性工程师 设计工程师、质量工程师 会议时间、地点及讲师：会议时间、地点及讲师： 会议时间：2015年8月20日(星期四)下午13：00-18：00 会议地点：CTI五楼培训室 会议地址：深圳市宝安 区70区鸿威工业园B栋5楼 会议讲师：卢 申林、张鑫 会议议程：会议议程： 13：00-13：30 签到 13：30-14：50 现有产品可靠性评估方法 HALT历史 HALT基本理论 HALT设备 HALT 1.0简介 HALT试验项目 14：50-15：10 中场休息（茶歇） 15：10-16：20