微聚焦磁光科尔效应仪.ppt

二. 晶体相移器件 Retarders 1. 波晶片 ─ 相位延迟片Wave plates 波晶片是光轴平行于表面的晶体薄片。 y d x A Ao Ae ? 线偏振光 光轴 λ 通过厚为d 的晶片，o、e 光产生相位差： A Ao Ae ? 光轴 P 振幅关系 ： ? 设线偏振光入射， 真空中的波长 从晶片出射的是两束传播方向相同、振动方向相互垂直、频率相等、相位差为?? 的线偏振光，它们合成为一束 椭圆偏振光 。 时 为圆偏振光 。 且 设在入射面上分解的两种线偏振光的瞬时光矢量大小可表示为： 在后表面上的出射光应表示为： ，线偏振光→圆偏振光 ，线偏振光→线偏振光 ? 从线偏振光获得椭圆或圆偏振光（或相反） ? 四分之一波片 ( ??4 片 )The quarter-wave plate ，线偏振光→椭圆偏振光 通过??4 片 ： 在出射光中，两种线偏振光的相位差为： d n n e o x y ) ( 2 0 - + = - = l p j j j j D 单轴晶片的快慢轴 ： 快轴：单轴晶体中与传播速度较快的光振动分量的振动面平行的方向 慢轴：单轴晶体中与传播速度较慢的光振动分量的振动面平行的方向 快慢轴的正方向：以拇指指向光线方向，四指按右手螺旋法则自晶片光轴方向转向光轴的正交方向，此时四指所指的光轴方向及其正交方向分别定义为晶片快慢轴的正方向。 说明：正单轴晶片的快轴垂直于光轴（亦即沿o光偏振面），慢轴平行于光轴（亦即沿e光偏振面）；负单轴晶片的快轴平行于光轴（亦即沿e光偏振面），慢轴垂直于光轴（亦即沿o光偏振面）。 波晶片：振动方向 快轴 慢轴 负晶体 : ne no (?e ?o) ( 如方解石 ) 圆起偏器原理 左旋 右旋 快轴 慢轴 椭圆起偏器原理 z ? 二分之一波片 A half-wave plate 半波片的作用是旋转它的偏振面的方向，旋转角度为2?， ?为波片的快轴方向与入射光振动方向之间的夹角。 A half-wave plate ? 全波片 The full-wave plate 2. 通过波晶片后的光强 总光强 3. 补偿器 ─可变相位延迟器 Compensators 定义：能够使透过的o光和e光的相位差任意改变的晶片 巴俾涅补偿器：由两块光轴正交的直角石英棱镜迭置而成，用于细光束的相位补偿调节。 第一劈内的o光进入第二劈内变为e光，光程： 同样地， e光， 两者的相位差： 三. 椭圆偏振光和圆偏振光的检偏 用 ??4 片和偏振片P 配合，可以区分自然光和圆偏振光，也可区分部分偏振光和椭圆偏振光。 索列尔补偿器：由两块光轴平行的石英直角劈楔与一块光轴正交的平行平面石英晶片迭置而成，可用于宽光束的相位补偿。 两者的相位差： 四分之一波片 圆偏振光 自然光 自然光 线偏振光 偏振片（转动） 线偏振光 I 不变 线偏振光 I 变, 有消光 以入射光方向为轴 四分之一波片 椭圆偏振光 部分偏振光 线偏振光 偏振片（转动） 线偏振光 I 变, 有消光 部分 偏振光 光轴平行于最大光强或最小光强方向放置，或光轴平行于椭圆偏振光的长轴或短轴放置 线偏振光 I 变, 无消光 磁光克尔效应： 磁光克尔效应：1877年， Kerr发现铁磁体对反射光的偏振状态会产生影响，当一束偏振光打到样品表面时，铁磁性会导致反射光偏振面转过一个小角度，这个小角度叫做Kerr旋转角θ，同时，铁磁性会导致椭偏率也有一个小变化，这个变化叫做Kerr椭偏率。 SMOKE（Surface Magneto-Optic Kerr Effect）装置：测量灵敏度极高；无损伤测量；测量到的信息来源于介质上的光斑照射的区域。 II 实验原理 所谓磁光克尔效应（magneto－optical Kerr effect，MOKE），是指当一线偏振光入射到磁化介质表面时，其反射光线的偏振性质会由于介质磁化强度的存在而发生变化（图1）。一般说来，反射光线会变成一椭圆偏振光，其椭偏率，称为克尔椭偏率，同时椭圆的主轴和原入射光的线偏振方向会有一个小的夹角，称为克尔旋转角。 图1 按照磁场相对入射面的配置状态不同,表面磁光克尔效应可以分为3种： a. 极向克尔效应, 薄膜样品磁化方向垂直于样品表面并且平行于入射面 b. 纵向克尔效应, 薄膜样品磁化方向在样品膜面内,并且平行于入射面 c. 横向克尔效应, 薄膜样品磁化方向在样品膜面内,并且垂直于入射面 a b c 激光器发射的激光束通过起偏棱镜后变为线偏振光, 然后从样品表面反射, 经过检偏棱镜进入探测器。检偏棱镜的偏振方向要与起偏棱镜设置成偏离消光位置很小的角度?（如图2所示）, 这主要是为了区分正负克尔旋转角, 若检偏棱镜方向设置