SnO2纳米线制备及缺陷态发光研究.pdfVIP

2013年 8月 江苏教育学院学报 (自然科学) Aug．，2013 第29卷 第4期 JournalofJiangsuInstituteofEducation(NaturalSciences) Vol_29 No．4 SnO2纳米线制备及缺陷态发光研究 秦 磊 范 毅 杰 宫 恋 于 纪 烨 戴 俊 (江苏科技大学数理学院，江苏镇江 212003) [摘 要] 利用气相传输法制备二氧化锡纳米线，通过x射线衍射 (XRD)和扫描电子显微镜 (SEM)及高分辨透 射电子显微镜 (TEM)对产物晶体结构、形貌和微结构进行 了表征．该样品荧光光谱 中主要包含两个发光带，分别位于 360nm及445nm．X射线光电子能谱 (XPS)结果显示该纳米结构产生的蓝色缺陷态辐射主要源于氧空住产生的缺陷 态深 能级 ． [关键词] 二氧化锡 ； 纳米结构； 缺陷态 [中图分类号] TB34 [文献标识码] A [文章编号] 1671—1696(2013)04—0001—03