二氧化钒纳米线相变过程中的偏折现象研究.pdfVIP

第33卷 第5期 电 子 显 微 学 报 Vo1．33．No．5 2014年 10月 JournalofChineseElectronMicroscopySociety 2014—10 文章编号：1000-6281(2014)0543406-07 二氧化钒纳米线相变过程中的偏折现象研究 丁文强，张振华 ，郭振玺，隋曼龄 (北京工业大学 固体微结构与性能研究所，北京 100124) 摘 要：通过真空气相凝聚法制备了单晶二氧化钒纳米线，利用SEM和TEM对纳米线的形貌和结构进行了表征 ， 并确定了其在硅基底上的生长状态。在透射电镜下的原位加热实验中，发现经过可控形核处理的二氧化钒纳米线 在相变之后会 出现宏观上的偏折现象，经过进一步的实验和计算，发现是由不垂直于纳米线轴向的相界面所诱发 的应力不对称导致的偏折。在光学显微镜下受基底束缚的纳米线的原位加热实验也证实了这一观点。 关键词 ：二氧化钒纳米线 ；原位加热；金属绝缘体相变 ；偏折 中图分类号：TB383；TG146．4 13；TG115