基于^63Ni辐伏同位素电池原型封装可靠性研究.pdfVIP

第46卷第3期 原 子 能 科 学 技 术 Vo1．46，NO．3 2012年3月 AtomicEnergyScienceandTechnology Mar．2O12 基于63Ni辐伏同位素电池原型 封装可靠性研究 高 晖，张华明，罗顺忠，王和义 (中国工程物理研究院 核物理与化学研究所 ，四JII绵阳 6219OO) 摘要 ：以加载有 。Ni源片的GD3217Y型探测器为处理件 ，在完成对封装材料 的配方选择、灌注工艺、流 程的制定并得到具有较好工艺性的灌注条件 的基础上 ，分别对原件 、加载不锈钢 圆片器件 、加载 电镀 8．14×10Bq。Ni不锈钢圆片器件进行非放、放射灌注封装 。在对灌件可靠性进行检测 的基础上 ，着重 考察 了原件、无 ／an载不锈钢 圆片灌件 、加载电镀8．14×10Bq。Ni不锈钢 圆片灌件封装前后、自然老化 及人工加速老化后 电学输 出特性，即考察在 。Ni源持续辐照下，灌料 、。Ni源、不锈钢片、芯片以及其他 部件构成 的体系内部之间相互作用关系，即封装件特殊要求——屏蔽性、时效性 。研究结果表 明，对 以 上结构的GD3217Y型探测器组件采用该种封装方式后除改善探测器组件的环境适应性，特别是在保证 放射源使用安全性的基础上具有较为稳定的电学输 出性能，这为辐伏效应 同位素 电池封装提供了参考。 关键词 ：GD3217Y型探测器 ；灌注；自然老化 ；加速老化 ；电学性能 中图分类号 ：TL814；TB42 文献标志码 ：A 文章编号 2012)03—0375—05 ElementaryStudyonEncapsulati0nReliabilityofRadioisotope BatteryPrototypeBasedon 。NiRadio-VoltaicEffect GAO Hui，ZHANG Hua—ming，LUO Shun—zhong，W ANG He—yi (InstituteofNuclearPhysicsandChemistry，ChinaAcademyofEngineeringPhysics， M ianyang 621900，China) Abstract：Forisotopebattery application，itisnecessary to encapsulatein a certain method．After havingaccomplished selection ofmaterialcomposing and proportion， procedureandencapsulatingprocessbasedonGD3217Y detector，thedifferenttypesof devicecome from untouched，loaded by slip ofstainless steelwith orwithout 。Ni isotopewereencapsulated respectively．Despitenecessary reliability ofpackagewas evaluatedinthepreviouswork，inview ofspecialtyduetotheincorporationofradioac— tiveisotopes into device，thereliability issuemustbe furthertaken into accountfor actualapplication．Hence，weemphasizeonthecomparisonaboutelectricalcapabilityof typesofdevicesunderthedifferentsituations，namely，beforeandafterencapsulation， thenaturalagingandartificialaccelerate