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功率放大器可靠性的新标准 By Craig Andrews Silicon Laboratories Inc. 近年来，功率放大器制造商一直在努力解决产品可靠性的问题，他们所取得的成果也各有 不同。2001 年，厂商开始将功率控制功能与功率放大器整合在一起，这种做法使得生产 良率大幅改善。新技术的出现通常会以五年为周期，因此现在应该是出现另一波创新高潮 的时刻。 移动电话对于散热要求日益严格，这是因为讯号传输过程的负载周期很大，厂商还可能将 多只天线整合到手机内。产业趋势的改变迫使厂商必须确保功率放大器不会受到温度过高 的影响。 功率放大器的可靠性需要进一步改善。传统的可靠性评估方式主要依赖有限的热模型以及 平均故障时间 (MTTF) 等统计资料，它们通常会以特定温度下的平均故障时间来代表产品 的可靠性，这种做法其实并不适当，因为我们并不知道实际操作时的接合温度。为了确保 功率放大器的长期操作可靠性，设计人员必须进一步提升产品的品质。 本文将介绍平均故障时间的计算方法、热模型的建立和一套用来排除组件寿命不确定性的 电路，我们还会就未来如何改善功率放大器的可靠性提出具体建议。 业界多半利用广为接受的统计方法来预测功率放大器的可靠性。不幸的是，制造商在评估 时所依据的参数却可能有所不同，例如有些制造商只引用活化能 (activation energy) ，有些 则使用平均故障时间。然而可靠性是一种多面向的问题，不能只由某种属性来代表 – 想要 了解产品可靠性，就必须了解可靠性的计算方式。Arrhenius 方程式是组件可靠性的基本 计算公式： t2 Ea  1 1    ln  ⋅ −  (1) t1 k T 2 T 1   其中： t1 = 温度T1 的平均故障时间 t2 = 温度T2 的平均故障时间 Ea = 活化能 (制程特性) T1 = 计算t1 时的温度 (开氏温度) T2 = 计算t2 时的温度 (开氏温度) 方程式 (1) 会根据已知的平均故障时间 (t1) 、故障活化能 (Ea) 和故障温度 (T1) 来计算温度 为 T2 时的平均故障时间 (t2) 。活化能是让半导体组件出现特定故障现象的所需能量，方 程式 (1) 经过整理后可得到方程式 (2) ，它是以平均故障时间 (MTTF) 来代表产品寿命。 Ea  1 1  ⋅ −  MTTF (T 2) MTTF (T 1) ⋅e k T 2 T 1 (2) 将方程式 (2) 绘制成温度关系图即可看出可靠性与温度之间的关联性。图 1 是两种不同制 程的平均故障时间，它们在 125℃时的平均故障时间相同，唯一区别是活化能，其中一种 制程的活化能为1.0 eV (电子伏特) ，另一种制程的活化能则为1.8 eV。 MTTF of 2 Processes 12 . 1 10