光学精密检测技术第九讲汇编.pptx

;全息计量基本理论;全息计量基本理论;全息计量基本理论;全息计量基本理论;全息计量基本理论;全息计量基本理论;全息计量基本理论; 普通照相记录光波的强度(即振幅)，将空间物体成像在一个平面上，丢失光波的相位。 记录物光波的振幅和相位，并在一定条件下再现，则可看到包含物体全部信息的三维像。 ;英籍匈牙利科学家丹尼斯·盖伯(Dennis Gabor)发明 盖伯设想：记录一张不经任何透镜的，用物体衍射的电子波制作曝光照片(即全息图)，使它能保持物体的振幅和相位的全部信息，然后用可见光照明全息图来得到放大的物体像。由于光波波长比电子波长高5个数量级，这样，再现时物体的放大率就可获得105倍而不会出现任何像差，所以这种无透镜两步成像的过程可望获得更高的分辨率。 1948：盖伯提出了一种用光波记录物光波的振幅和相位的方法，并用实验证实了这一想法，从而开辟了光学中的一个崭新领域，他也因此而获得1971年的诺贝尔物理学奖 。;1948到50年代末期，全息照相进展缓慢： 采用汞灯作为光源，光源的相干性太差 同轴全息图，它的级衍射波是分不开的，即存在所谓的“孪生像”问题，不能获得好的全息像。 1960：激光被发明，提供了一种高相干性光源 1962年美国科学家利思(Leith)和乌帕特尼克斯(Upatnieks)将通信理论中的载频概念推广到空域中，提出了离轴全息术 。 全息术快速发展： 并在信息处理、全息干涉计量、全息显示、全息光学元件等领域得到广泛应用。;基本思想： 用干涉方法得到像平面上光波的全部信息(振幅和相位)，记录在记录介质上——波前记录。 在一定条件下，将记录携带物体全部信息的波前再现——波前再现。 说明： 全息术中通常使用的波是光波，一般把它称为光全息术，另外还有微波全息术、声波全息术等。 波前记录与波前再现是全息术的核心 ;;被记录的总光强为：; ;当 ， 有;当C=R , 有;当 ， 有;同轴全息;离轴全息;单纯的全息照相技术,不能提供测量信息, 但全息底片记录了物光的某一状态的 波前信息, 可以与新的物光信息形成干涉, 可以利用干涉测量的技术进行测量分析工作 1965年 R. Powell 和K. Stetsen提出, 把干涉测量和全息技术相结合, 进行一些测量工作。 常用的测量方法主要有: 实时法（单次曝光法） 二次曝光法 时间平均法;一次全息图制作→复原安装→再现对准 应用: 实时观察不同条件下的变形情况,如温度\压力\内部情况 特点: 只需一次制作全息底片 方便,节省时间,特别适合透明介质的一些现象 复位精度要求高 使用时间短,条件要求高, 乳胶易收缩变形,产生附加条纹 ;原位曝光/遮光→物体发生变化→再次曝光→显影/定影→显示观察 应用: 瞬态现象研究, 如冲击波、流体、燃烧等;注意: 曝光时间远大于振动的周期 常用于振动模式分析;2006年3月6日星期一;常用方法： 实时法、二次曝光法 用途： 测量透明介质的一些物理场信息 如： 温度、力场、流速、均匀性等信息;项目;数字全息处理——移相法;同轴移相全息;同轴移相全息;;微透镜阵列显微全息图;;;;;;1970 年 Leendez开创了光学粗糙表面的干涉测量方法， 称这种方法为散斑干涉测量 一、 基本的概念 散斑：当一束激光照射到物体的粗糙表面上时，其反射的光束中亮斑与暗斑的分布杂乱，顾称为散斑（Speckle） 其实质：经粗糙表面漫反射后的光，空间干涉的结果， 所以是非物体表面的像 其分布与照射的表面有关(小);散斑产生的条件： 1）粗糙表面， hλ产生均匀散斑 2）必须有高相干光 散斑照相: 被激光照射的粗糙表在透镜的像面上形成的散斑图 同全息相比, 散斑照相并不能提供测量的一些信息 如果利用全息技术记录某一时刻的散斑信息, 利用变化后的形成的散斑干涉, 可以进行测量工作 散斑干涉技术: 在散斑图的基础,外加一相干的参考光,例如 平面波,球面波或者稳定的其他散图均可 应用: 测量位移、应变、振动、粗糙度等;散斑——垂直光轴方向平均散斑直径： 散斑——光轴方向平均散斑直径： ——光波波长 ——被照明的散射表面对观测点的张角 ——被照明的散射表面的直径 L——散射面到观察面的距离;散斑大小——垂直光轴平均散斑直径（焦平面）： 散斑大小（不在焦平面位置）： ——焦距 ——透镜口径 ——像距;散斑对比度： 表面粗糙度： ;散斑位移与物体位移的关系： ;1、 测量纵向位移