利用TFC求膜层的N与K图文教程概要1.docx

利用TFC求膜层的N与K图文教程1．首先利用晶控控制沉积单层膜，厚度约4~7个1/4个中心波长，这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜，晶控显示厚度390nm；2．然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率，测量范围最好宽些，这里测量400~1500nm，利用list选项导出所测量数据，并保存为TXT格式，这里命名ZnS.TXT,如图所示：3. 打开TFC，选择modify－materials??4．继续选择Add Material，填写材料名称，选择合适的N与K的拟合公式，这里选择Cauchy与Sellmeier公式，如果不合适，可试选别的公式，点OK结束。5．试填写A0与B1等各系数，以后熟练可凭经验填写，点击Fit Data选项结束此步。6．根据实际情况填写各选项，点击Set Constraints结束此步。?7. 填写薄膜厚度与是否优化，点OK离开。8. 回到上界面，点击Computer进行计算。9.下面为计算结果图，如果感觉结果可接受点击Accept选项，如不接受，点击Reject选项返回重选拟合公式，修改拟合公式系数或膜厚等参数继续计算。10．结果处理：感觉结果可接受点击Accept选项，出现下面界面，点击convert选项，填写材料名称，点击OK，即可保存所计算的N与K值，如下图所示。完工。?