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FAE疑难问题总结概要1
疑难问题总结传统互容1(06、16系列)1、06系列项目,在下边缘画线,容易画出超出AA区的折线(尤其在分辨率特别大时)此时需修改flowwork.c中void FlowWork(void)函数中参数:3220行:#ifdef TOUCHKEY_EN??????????? structFrameInfoVar.ucFrameRow += 1;??????????? if (structTouchKeyStatus.ucTouchKeyFlg == 1)??????????? {for(i = 0; i structTouchKeyStatus.ucTouchKeyNum;i ++)??????????????? {structTouchStatusVar.structPointStatusArrayOriginal[structTouchStatusVar.ucCurrentPointNum + i].usPosX = \??????????????????? structTouchKeyStatus.ucTouchKeyIndex[i];??????????????????? structTouchStatusVar.structPointStatusArrayOriginal[structTouchStatusVar.ucCurrentPointNum + i].usPosY= \2100;(修改为按键Y坐标值)???????????????? }3359行:#ifdef TOUCHKEY_EN??????????? //for(i = 0; i structAppTouchStatusVar.ucCurrentPointNum;i ++)??????????? for(i = 0; i MAX_POINT;i ++)??????????? {if (structAppTouchStatusVar.structPointStatusArray[i].usPosY ==2100)(修改为按键Y坐标值)??????{j = structAppTouchStatusVar.structPointStatusArray[i].usPosX;????????????????????structAppTouchStatusVar.structPointStatusArray[i].usPosX= \??????????????????? structTouchKeyStatus.aucTouchKeyOutput[j][0];structAppTouchStatusVar.structPointStatusArray[i].usPosY= \??????????????????? structTouchKeyStatus.aucTouchKeyOutput[j][1];//break; }#endif //TOUCHKEY_EN2、电源干扰调试步骤;(1)、增大CAP值;一般调试到最大,即160/80;(2)、选择最佳频率;可通过频谱仪选择干扰最小的频率;(3)、ID滤针算法;针对偶尔出现的干扰跳点问题,改善较明显;(4)、前级针滤波算法;可很大程度上改善严重跳点问题,但会影响整体体验;3、ESD跳点调试步骤;(1)、打开ESD宏定义;(2)、滤针;参见以下代码;DateProcessPost.c中PointFilterProcess函数:230行:voidPointFilterProcess(STRUCTAPPTOUCHSTATUS *pstructTouchStatus){ if (pstructTouchStatus-ucLastPointNum 0){return; }if (pstructTouchStatus-ucCurrentPointNum pstructTouchStatus-ucLastPointNum){if (G_ucTouchedCnter 2)(滤除的针数) {G_ucTouchedCnter ++;pstructTouchStatus-ucCurrentPointNum = pstructTouchStatus-ucLastPointNum;else{G_ucTouchedCnter = 0; }if (pstructTouchStatus-ucCurrentPointNum == 0){pstructTouchStatus-bTouchStatus = 0; }}4、按键几率性无功能调试;(1)、TP整体rowdate值调试至相差不超过300且TP需校准并保存;(2)、打开按键宏定义,未使用的通道需挖空处理;(3)、关闭防水宏;5、手指分离算法;详见说明文档(PeakMerge
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