在检验莫塞莱定律实验中 - 复旦大学物理教学实验中心Fudan Physics .DOC

在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取？ 作者: 秦闻 摘要 在检验莫塞莱定律实验中，关于的选取问题，根据《原子物理学（第三版）指的是元素的X射线特征谱。为了检验莫塞莱定律，其中由于各个元素的特征谱不能够直接测量，我们的实验中选取的是透射率突变处斜线的中间确定吸收边的位置，并以吸收边作为公式中的。跃迁电子的轨道离核越远,其能量越接近逐出电子的能量,所产生的特征谱越接近吸收限。估算钼靶产生X光K系列特征谱所需要的最小电子加速电压，用晶体衍射实验来验证。 引言 波长在m到m范围的电磁波称为X光。当高速运动的电子和原子相碰撞时，一般都能发射X光。如果高速电子和原子中的内层电子相互作用，使其跃迁到外层（称为激发）甚至脱离原子的束缚（称为电离），从而在原子的内层形成空位。这时，外层电子就会向内层电子跃迁，以填补空位，并发出波长较短的光子，通常为X光。Moseleyslaw反映各元素X射线标识谱规律的实验定律（X光的特征谱）可以用吸收边来代替吗？实验中吸收边应如何选取？ 关键词 特征谱 吸收边的选取 最小电子加速电压 正文 1.原理依据及问题提出： “在钼靶上打出的X射线谱分为两部分，一是连续谱，在图中呈现一个山丘模样，这是韧致辐射产生的X射线谱；一是叠在连续谱上的两个尖峰，就是特征辐射产生的X射线谱，两峰所对应的波长位置与外加电压无关。各元素的特征X射线谱有相似的结构，各元素的特征X射线能量值（或波长值）各不相同，被用来作为元素的标识，所以又可以称为元素的标识谱。元素的标识谱是原子中内层电子的跃迁产生的。” [1] 图一 钼靶上打出的X射线发射谱 横坐标为X射线经NaCl晶体的入射角 纵坐标为收集极记录X射线强度 如果把各元素的特征X射线的频率的平方根对原子序数作标绘，就会得到线性关系。这就是莫塞莱当年得出的规律，称为莫塞莱定律。 产生K系X射线的阈能大于K系X射线本身的能量 [2] 图二为钼吸收片的透射率与X射线能量的关系。Kα和Kβ是钼的标识K系X射线的能量. 以钼为例，它的两个特征谱和吸收边的关系右图二所示。右图横坐标为X射线能量值，纵坐标为钼吸收片的透射率，吸收边对应的能量略大于特征谱对应的能量。（图来自《原子物理学第三版），即，用相应的波长来描述则有：。当波长小于而越接近于时，越容易激发电离，因而吸收系数越大；但一旦波长大于，吸收系数就会突然下降。因此，吸收系数在两侧有一个突变，它对应的能量是壳层移去一个电子所需的能量。[3]吸收限的波长等价于产生内层轨道空位所吸收的能量，等价于从该能级上移走一个电子并使其脱离原子的能量。[4] 而K系X射线Kα的能量是电子从n=1到n=2层的能量差值，对应的是元素的Kα特征谱，如图三所示。根据《X射线光谱分析的原理和应用》一书，特征线的波长相当于高层电子填充该能级空位时所释放的能量，谱线的波长必然大于吸收边的波长，谱线的能量必然小于吸收限的能量。跃迁电子的轨道离核越远,其能量越接近逐出电子的能量,所产生的特征谱越接近吸收限。 图三为n=2和n=3层电子向n=1层 跃迁放出k系X射线的示意图 我们用软件中draw k-edge的方法目的是得到k-壳层吸收边的位置，接近元素的标识谱，那么这样做有误差吗？怎样draw k-edge才能得到最接近标识谱的波长值？ 2.思考与实验： 下面四种元素为例，探讨吸收边应如何选取？图四衍射谱中横坐标为X光的波长，纵坐标为接收器对X光的计数。图五透射谱中横坐标为X光的波长，纵坐标为透射率。选取吸收边时，分别选取透射谱突变斜线的右边、中间，和NⅡ/NⅢ跃迁到K层特征谱以及吸收边理论值的差别比较如下表一所示： 图四 四种元素的衍射谱 图五 四种元素的透射谱 元素 NⅡ/NⅢ跃迁到K层特征谱/pm K系吸收边理论值/pm 取选中间时得到吸收边/pm 误差／％ 选取右边得到的吸收边/pm 误差／％ In(49) 44．5 44.4 43.8 －1.35 45.2 1.80 Ag(47) 48．7 48.6 48.2 －0.82 50.1 1.03 Mo(42) 62．1 62.0 61.3 －1.13 62.9 1.45 Zr(40 69．0 68.9 68.2 －1.02 69.7 1.16 [6] [7] 图六 莫塞莱定律图解，用于选择X射线特征线 3．结论: 莫塞莱定律的图解见图六，横坐标为原子序数，纵坐标为波长的平方根的倒数。四条线分别表示各个元素Kα1，Kβ1，Lα1，Lβ1特征谱与原子序数的关系。 可以看出用吸收边的数值做吸收片外层的特征谱,数值是非常接近的。而且选取中间比