在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取-复旦大学物理教学实验.PDF

在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取？ 作者: 秦闻 摘要 在检验莫塞莱定律实验中 1 R Z =−σ ，关于λ 的选取问题，根据《原子 ( k ) k λ k 物理学》（第三版）莫塞莱定律的λ 指的是元素的X射线特征谱。为了检验莫塞 k 莱定律，其中由于各个元素的特征谱不能够直接测量，我们的实验中选取的λ 是 k 透射率突变处斜线的中间确定吸收边的位置，并以吸收边作为公式中的λ 。跃 k 迁电子的轨道离核越远,其能量越接近逐出电子的能量,所产生的特征谱越接近吸 收限。估算钼靶产生X光K 系列特征谱所需要的最小电子加速电压，用晶体衍射 实验来验证。 引言 -8 −11 波长在10 m到10 m范围的电磁波称为X光。当高速运动的电子和原子相碰撞时， 一般都能发射X光。如果高速电子和原子中的内层电子相互作用，使其跃迁到外 层（称为激发）甚至脱离原子的束缚（称为电离），从而在原子的内层形成空位。 这时，外层电子就会向内层电子跃迁，以填补空位，并发出波长较短的光子，通 常为X光。Moseleyslaw反映各元素X射线标识谱规律的实验定律。验证莫塞莱定 律实验中的λ （X光的特征谱）可以用吸收边来代替吗？实验中吸收边应如何选 k 取？ 关键词 特征谱λk 吸收边的选取 最小电子加速电压 正文 1.原理依据及问题提出： “在钼靶上打出的X射线谱分为两部分，一是连 续谱，在图中呈现一个山丘模样，这是韧致辐射 产生的X射线谱；一是叠在连续谱上的两个尖峰， 就是特征辐射产生的X射线谱，两峰所对应的波 长位置与外加电压无关。各元素的特征X射线谱 有相似的结构，各元素的特征X射线能量值（或 波长值）各不相同，被用来作为元素的标识，所 以又可以称为元素的标识谱。元素的标识谱是原 子中内层电子的跃迁产生的λ 。” [1] k 图一 钼靶上打出的X射线发射谱 横坐标为X射线经NaCl晶体的入射角 纵坐标为收集极记录X射线强度 如果把各元素的特征X射线的频率的平方根对原子序数作标绘，就会得到线 性关系。这就是莫塞莱当年得出的规律，称为莫塞莱定律。 产生K 系X射线的阈能大于K 系X 射线本身的能量 [2] 图二为钼吸收片的透射率与X射线能 量的关系。K α和K β是钼的标识K 系X射 线的能量. 以钼为例，它的两个特征谱和吸 收边的关系右图二所示。右图横坐标 为X射线能量值，纵坐标为钼吸收片 的透射率，吸收边对应的能量略大于特征谱对应的能量。（图来自《原子物理学》 第三版） 什么是阈能？举例来说，当n=1层中出现一个空穴时，n=2层中的电子感受 到的是Z-1个正电荷的作用向内层跃迁时，发出X光辐射。K 系X射线的阈能是从 n=1层移去一个电子所需的能量，X光若要电离某一壳（如k层）的电子，