姓 名 - 二维材料光学性质研究组.docVIP

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  • 2017-07-04 发布于境外
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姓 名 - 二维材料光学性质研究组

半导体所显微共焦拉曼/荧光 联系电话 测试目的 样品描述 探测器 选择 Si CCD (200nm-1000nm) □ InGaAs阵列(800nm-1600nm) □ 单道探测器(200nm-2300nm) □ 光谱类型 拉曼光谱 □ 荧光光谱 □ 激光波长光栅600线□ 1800线□ (分辨率参数见下页) 非常规测试特殊波长光栅00线□/1200线□/300线□/100线□等 特殊温度偏振光谱成像低波数 我已经详细阅读并同意测试收费标准(见附件)签字:或负责人签字: 半导体研究所显微共焦拉曼(含低波数)/荧光光谱仪对外开放测试 基本测试参数如下: ??? 谱仪焦长:800毫米; ??? 标准激发波长:633nm和532nm; ??? 标准光栅:600g/mm和1800g/mm ??? 谱仪分辨率(633nm): 1.3cm-1 (600g/mm); 0.35cm-1 (1800g/mm) 收费标准:考虑到有些用户的一个样品要测多条谱线且每条谱线测试时间很短,而另外一些用户一个样品就测一条谱线但积分时间非常长。为了综合考虑到不同用户的不同要求,我们设置了设备占用费,此部分收费主要根据设备折旧费、设备运行维护费用、水电汽等燃料动力费、房屋使用费等成本核算后得出。在收取设备占用费的同时,我们将采用较低的基本测试费标准,主要用于服务人员

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