霍尔效应原理与测量技术-北京美亚先科技有限公司.PDF

北京美亚先科技有限公司 BEIJING MEIYAXIAN TECHNOLOGY CO. LTD 霍尔效应原理与测量技术 王 中 武 北 京 美 亚 先 科 技 有 限 公 司 美国物理学家霍尔 (Edwin H. Hall 1855-1938)于 1879 年在实验中发现，当 电流垂直于外磁场方向流过导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端 面之间会出现电势差，这一现象便是霍尔效应 (Hall Effect) 。后来发现半导体、 导电流体等也有这种效应，而半导体的霍 尔效应比金属强得多，利用这现象制 成的各种霍尔元件，广泛地应用 于工业自动化技术、检测技术及信息处理等方 面。霍尔效应是研究半导体材料性能的基 本方法。通过霍尔效应实验测定的霍 尔系数，能够判断半导体材料的 导电类型、载流子浓度及载流子迁移率等重要 参数。