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波长色散X射线荧光光谱法测定镀锌板表面钝化膜厚度.pdf
▲垒塑皇竺竺
波长色散X射线荧光光谱法测定
镀锌板表面钝化膜厚度
张有为,李晓峰,闻达,乔建军
(北京首钢冷轧薄板有限公司,北京101304)
0550—03
中图分类号:0657.34文献标志码:B 文章编号:100卜4020(2015)04
钢板表面热镀锌后,锌在腐蚀的环境中能在表 得未知样品中铬的含量,按照已知标准样品中铬含
面形成良好的耐腐蚀性薄膜,保护锌镀层本身和钢 量与厚度之间的关系计算待测样品的厚度。
基。钝化膜是涂在镀锌板外层的一层无色透明的保
2结果与讨论
护膜,热镀锌钢板经钝化获得钝化膜后具有良好的
耐腐蚀性能,可有效地防止、减轻镀锌层表面产生白 2.1测量条件的选择
锈。钝化膜厚度的控制对成本及质量有较大的影 试验中发现X射线计数强度超过强度上限1,
响,对于含铬钝化膜的检测可以通过含有缓蚀剂的 导致计数率与真实X射线强度不成正比,出现漏计
碱性溶液,对待测试样镀层中的六价铬进行剥离,在 数。为解决该问题,增加衰减器将探测器计测到的
波长540nm处,以二苯碳酰二肼为指示剂,用分光 X射线强度降低90%,见图1。为消除电子噪声,脉
光度法对剥离液中六价铬含量进行测定,或用电感 冲高度分析器设置脉冲高度分布(PHA)下限为
耦合等离子体原子发射光谱法(ICP—AES)测定,但
检测较为繁琐[1‘4]。本工作用波长色散X射线荧光过调节,使所测量的x射线脉冲高度的最大值为
2。0,见。图2。
光谱法(wDXRF)测定待测样品钝化膜中铬含量,
按已知标准样品中铬含量与厚度之间的关系计算待
测样品的厚度。
邑
上
1试验部分 \
创
鳗
1.1仪器与工作条件
ZSX
Primus型X射线荧光光谱仪,JC23—63型
冲床。
mA,
分析谱线CrK。,管电压50kV,管电流30
蚓1 1p与强度关系罔
样品盒面罩孔径45mm,LiF晶体,探测器为钪,视
between
2臼and
Fi吕lRelationship intensity
野光栅30mm,背景BGl为68.73。,背景BG2为
69.93。,测量角度2口为69.34。,脉冲高度分布为
2.2组分的选择
100~300。 x射线荧光光谱分析仪按波谱分析方法的不同
1.2试验方法 分为波长色散和能量色散两大类型。用X射线光
试验中假定样品在X射线分析时是均一的,测
管产生的初级X射线照
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