弱光波前传感器质心计算的新方法ξ - 强激光与粒子束.pdfVIP

　第11卷　第1期 强 激 光 与 粒 子 束 . 11, . 1　 V o l N o 　1999年2月 H IGH POW ER LA SER AND PA R T ICL E BEAM S Feb. , 1999　 弱光波前传感器质心计算的新方法 沈　锋　姜文汉 ( 中国科学院光电技术研究所, 成都双流350信箱, 610209) 　　摘　要　研究了 波前传感器质心计算的新方法, 即最小二乘高斯拟合 Shack H artm ann 方法。分析了 波前传感器采用一阶矩质心计算位置方法对光斑强度的敏感 Shack H artm ann 性, 与最小二乘高斯拟合方法进行了比较, 并对 波前传感器的子孔径波前斜 Shack H artm ann 率探测的正确性进行了分析。最后的计算结果表明最小二乘高斯拟合法计算子孔径光斑的质 心位置可以减小质心探测的误差。 　　关键词　 自适应光学　波前传感器　质心探测　高斯拟合 　　中图分类号　T P212 　　自适应光学系统中 传感器的波前相位探测精度依赖于子孔径光斑的质 Shack H artm ann 心探测和计算精度。目前常用子孔径光斑强度的一阶矩来计算光斑质心位置。然而, 这种一阶 矩计算方法受噪声影响很大, 在有噪声存在的情况下, 远离光斑的那些象素上的噪声对一阶矩 有很大的贡献, 这说明了这些象素对一阶矩质心的信噪比影响很大。对一阶矩计算方法的质心 探测误差已经有详细的分析, 也分析了采取阈值的方法减小噪声对一阶矩质心计算的影 响[ 1, 2 ]。也有人提出采用神经网络等其它的方法来计算 子孔径质心的位 Shack H artm ann 置[ 3, 4 ]。本文基于子孔径上的光斑具有高斯函数的特征, 提出了采用高斯函数对子孔径图象进 行拟合从而来计算质心位置的方法。 1　 - 传感器子孔径的质心探测误差 Shack Hartmann [ 5 ] 　　自适应光学反馈校正系统中, 可以采用直接斜率法进行波前控制 , 控制后的残余斜率将 直接影响系统的校正效果。残余斜率包括 传感器的质心位置的探测误差和 Shack H artm ann 外界扰动的斜率残差, 而 传感器的质心位置的探测误差属于不可校正的误