维明测试机VFD及DVF说明.ppt

DVF及VFD說明 大 綱 DVF功能說明 VFD功能說明 LED材料SCR特性 測試材料之實驗 結論 DVF功能說明 測試功能 可測試材料在加熱前後的VF變異 量測方法 可設定3道電流量測材料 第1道電流量測初始VF 第2道電流加熱LED 第3道電流量測加熱後VF值 計算初始和加熱後VF差異( VF) DVF設定方式 設定参數 IFM1: 設定第一道流經材料的電流值 IFP : 設定加熱材料時的電流 IFM2: 設定第二道流經材料的電流值 測量順序為: IFM1 IFP IFM2 DVF讀值定義 VFM1: IFM1所量測到的VF值(未加熱) VFM2: IFM2所量測到的VF值(加熱後) DVF : VFM2-VFM1的讀值( VF) VFD功能說明 測試功能 為量測VF凸峰的變異值 測試方式可區分為兩種 多次測試取平均 依設定模式可以測試5~8次 單週期測試 開啓單週期測試功能只做1次VFD測試 VF變異 VFD多次測試設定方式 設定参數 IFD参數的定義: 0: 不做此項目測試 1: 以100uA電流測試(連續測8次取平均) 2: 以25mA電流測試(連續測5次取平均) 3: AUTO測試 (先作100uA後再作25mA測試取 兩者之間最大的讀值) VFD單次測試設定方式 設定参數 IFD参數的定義: 0: 不做此項目測試 1: 以100uA電流測試(僅作單次量測) 2: 以25mA電流測試(僅作單次量測) 3: AUTO測試 (先作100uA後再作25mA測試取 兩者之間最大的讀值) VFD次測試讀值定義 VF: 指測量最後的VF值(VFF) VFD: 指測量最高VF值減掉最後VF值 (VFD=VFP-VFF) VFP VFF VFD單週期功能設定 若要開啟此功能需在測試機工程模式下進行設定(如下圖,PAGE5): IFD1 PULSE WIDTH (Ms,0=NORMAL) (指設定VFD 100uA所輸出的電流時間) IFD2 PULSE WIDTH (Ms,0=NORMAL) (指設定VFD 25mA所輸出的電流時間) ＃電流設定及量測讀值顯示同於VFD多次測試 時間 IFD Pulse width LED材料SCR特性 SCR特性主要分為: Thyristor (閘流體效應) Snapback (熱內縮效應) Thyristor (閘流體效應) Thyristor: LED的主要材料是pn接面，而閘流體(Thyristor)是電子電力常用的控制元件，當它的厚度不均勻的時候就會有pn層面交錯的情形產生，此時的電壓差就會有很大的差異，這就是「閘流體效應」，而若電壓差太大的話就顯示此產品的品質不太好，所以這也可以用來衡量LED的品質。 (如右圖) Snapback (熱內縮效應) Snapback : 與Thyristor之特性很像,主要差異在於Thyristor不會因為熱或其他因素而造成特性上的變化,而Snapback則會因為熱等因素而使特性產生變化甚至會使原本特性不見 (如右圖) 紅線為:瞬間VF的曲線 棕線為:點亮後一小段時間的曲線 藍色為:穩定後的曲線 測試材料之實驗 實驗方式: 根據材料特性以DVF及VFD的方式來驗証量測的 差異性 實驗步驟為: 取1顆有Thyristor材料及1顆有Snapback 用DVF,VFD多次平均及單週期三種方式量測 實驗結果 實驗結果 Thyristor(閘流體效應)材料測試 #此材料特性為短暫的突波效應 1.DVF量測 : 將材料加熱並無法量測到突波的VF,無法檢測出VF的差異 2.VFD-多次量測: 可以取得突波VF值有效呈現出VF的差異 3.VFD-單週期: 只做一次測試但仍可以取得突波VF值呈現出VF的差異 DVF VFD-多次測試 VFD-單週期 實驗結果 Snapback(熱內縮效應)材料 #此材料特性為材料受熱後產生VF下降的現象 1.DVF量測 : 將材料加熱後再比對可檢測出VF的差異 2.VFD-多次量測: 無法達到加熱效果,VF的差異無法呈現 3.VFD-單週期: 只做單一次測試且可設定量測時間可達到加熱材料的效果,VF的 變異仍可呈現 DVF VFD-多次測試 VFD-單週期 結論 依據材料特性的不同必須選用適當的量測方式來符合VF異常的篩選需求 量測的結果呈現出VF的差異變化,可根據材料的