以光致变色镜片作为全像干涉术记录媒体的形变量测系统之开发.PDF

第 11屆 海峽兩岸計量學術研討會 A-00 19 2016 年11月 1日 ~ 3日 臺灣 ‧桃園 ‧中壢 中原大學 以光致變色鏡片作為全像干涉術記錄媒體的形變量測系統之開發 1 1 楊洋 李朱育 1 中央大學 機械工程學系 E-mail: juyilee@ ncu.edu.tw 摘要 需要先將待測物之原始形貌量出，再將變化後 本研究使用光致變色鏡片作為全像干涉術 形貌量出，兩者相比較才能得到形變，量測耗時， 之紀錄媒體並且使用紫光405nm雷射作為光源 ，且不直觀。而電子散斑干涉量測法雜訊量太高， 開發一套 形變量測系統 。量測過程中不需將記 訊號處理相當繁瑣，因此 本研究使用全像干涉 錄媒體取下進行顯影、清洗、風乾等步驟，可降 術的方法量測形變。 低取下紀錄媒體再裝回原位產生偏移所 造成的 目前 全像術有兩種拍攝方法 使用全相片作: 誤差 以及節省許多時間。 此外將光源關閉後，全 為紀錄媒體與直接使用CCD作為紀錄媒體的數 像光柵將逐漸洗去 ，因此不需更換紀錄媒體。 位全像術 [5] ，其方法為直接將物光與參考光干 涉訊號紀錄於CCD 上，再配合演算法將形貌模 關鍵詞 ：全像術、面外位移、形變、光致變 擬重建。目前多應用於顯微鏡，量測極微小物體 色 之形貌，由於兩道光干涉條紋密度相當高，故 CCD 之解析度也必須相當高，若要量測正常尺 1. 前言 寸之物體則CCD 必須達到相當高的規格，成本 科學的基礎在於量測，量測之精準度將影響 極高 。而常見的全相片有重鉻酸明膠 、感光乳劑 、 科技發展的程度，並且量測的結果可提供一套 光致變色材料、光折變材料、光聚合物等等，各 標準，讓世人得以客觀且精確地描述事物。 種材料都有其優缺點。理想的紀錄媒體應具備 一個產品在開發的過程中，或多或少需要了 高繞射效率、高感光性、高光 學品質、製程容易、 解材料或結構之機械特性，而藉由量測面的形 可量產、可重複讀寫、響應快速、解析度高等特 變或應變，將可以得到許多資訊，如材料所受的 性。其中只有光致變色材料與光折變材料具有 拉力、剪力 、熱力等等的應力分布情形。其牽涉 重複讀寫之特性，並且又以光致變色材料響應 的領域非常廣，不論是學術界，工程界還是科技 較 快、成本較低、重複讀寫較簡易，關閉光源即 產業等等，一直是很感興趣的一環。從前最常用 可復原 。故本研究採用光致變色材料作為紀錄 的形變量測工具主要是接觸式的應變規，應變 媒體 ，測試其可行性以及效能。 規的好處是價錢便宜用完即丟, ，但其只能做單 點的量測，且必須黏貼於待測物上與待測物視 2. 原理 為一體，黏貼品質更是會影響量測準確度，對於 想了解全場形變的量測人員，應變規明顯無法 滿足其需求。 有鑒於此，必須尋找其它替代方法。光學量 測便是其中最可行的方式，光學量測技術可以 圖 1實驗架構圖 非接觸且高精度的方式，達到傳統機械量測所 不能及的性能。常見到的光學量測形變的方法 本研究之架構如圖1所示，使用 405 nm 波 有陰影疊紋法[1] 、電子散斑干涉量測法[2] 、雷 段之雷射，光束通過擴束鏡 (BE) 擴束為直徑 射三角量