植物营养研究法5章根际研究法概要1.pptVIP

第五章 根和根际的植物营养研究方法 第一节 根系研究法 二．影响根系生长的因素 三．根系研究方法 （一）钉板法 （二）容器法（根籍或根箱法） （三）玻璃壁或玻璃管 （四）同位素法 （五）多孔膜法 四．根参数 第二节　　根际的研究方法 二．根际研究的难点 三．研究方法 （二）根际土壤特性的研究方法 1．根际土的直接采集法 2．根际土壤的冰冻切片法 3．放射性自显影法 4．微电极法 5．电子探针法 第三节 VA菌根的研究方法 二．VA菌根在植物营养中的作用 三．VA菌根的研究内容 四．研究方法 （二）植物根系被菌根侵染程度的定量分析 （三）VA菌根的繁殖与菌种保持 不象其它研究，根际研究是微区研究，难度较大，进展缓慢，要求技术条件较高，对微区研究的高分辨率，如何将根际土分离出来研究。 （一）根系表面特性的研究 １．研究概况 指标：（1）根系阳离子交换量（CEC）：着重于阳离子交换能力的物理化学性质，表面吸附量忽略了根系生理活性与养分吸收的联系。 因此，CEC与养分吸收相关性不一定很好，且与阳离子种类、作物种类影响较大 （2）根系表观自由空间“Apparent free space” 养分离子进入根系的两条通道：通过细胞膜的主动运输、质外体。 AFS：根系内部的细胞间隙和细胞壁微纤维中的空隙，在植物体内相互连通形成运输通道，允许水分和溶液自由移动，是根系表面的延续部分，或视为“内表面”。 有研究结果表明：AFS中养分浓度与植物吸收养分量呈正相关。 2．根系AFS的测定： 原理：低温4度下，根系生理活性基本停滞，此时放入蒸馏水中根系AFS中的养分只能向外扩散。 测定一定时间平衡后扩散出的养分多少即代表该养分的AFS。 方法：营养液培养的根系或从土壤中清洗出的根系，洗净后吸水纸吸去多余水分，称一定量根，加入20倍量的水，于4度冰箱中浸提2小时后，测定溶液中养分量。 　　根际土壤受根系活动（呼吸、分泌物、吸收养分）影响，其pH、Eh、O2、水分、土壤养分数量及形态部分有所不同。 　　研究它们的变化，有助于理解根系生理活动，特别是逆境条件（如缺素、过量）作物反应机制。 （1）原理：根据土壤与根系粘着程度不同，将其分为根面土、根际土和非根际土。 根面土：距根面约0-2mm。紧密附着于根面。 根际土：距根面约1-4mm，松散粘附于根面。 非根际土：距根面4mm以上，手工很容易抖落下来。 （2）应用：可研究根际微域内存在的有效养分亏缺状况。 （3）优缺点：方法简单、方便，不需特殊设备，可直接用于田间，但较粗放，不精确。 方法要点： （1）集束平面根的培育：有机玻璃盆内装营养液，上端置一漏斗形框架，内放尼龙网，密集播入30粒种子，一个月后，玻璃盆中形成平面根。 （2）土块制备：供试土样过100目筛，称取一定量装入长方形有机玻璃盒，将开口处土壤蒙上一隔膜，其可让水分养分自由通过，根系无法通过。 （3）根际土的形成：将制好的土盆隔膜面与集束根平面紧密接触，放入盆钵中，再充以石英砂或土壤，温室中培养不多于20天 （4）土壤冰冻切片法制备：取出有机玻璃盆中土壤，液氮速冻，切片机上切成1mm厚薄以供分析。 优缺点：严格地解决了不同层次微区土壤的区分、可定量研究各种养分、水分在根土界面移动规律。 只能进行短期试验、获得土壤样品量有限。 （1）方法： 获得同位素标记过土壤的根际薄片土层； 薄层与x光胶片接触、曝光，记录下薄层不同部位的放射性； 冲洗x光胶片、显影：曝光点即为待测养分分布区，曝光深浅反映养分离子含量多少。 （2）特点 可以定位放射示踪剂在样品中的分布 定量上误差较大，只能作相对定量 只能获得养分总量根念，不能测其有效性 微电极：原理与普通电极一样，其体积小，特别是其敏感尖端直径以um计，若直径小于0.5um为超微电极，最小可达0.04um。 微电极可以测量微区的pH、Eh、电导、养分（离子选择电极）等。 应用：可以测定土壤各部位，包括根际中的电化学性质，有时也可以用于植物组织甚至细胞中性质测定。 优点：可以在原位连续测定根际微区的养分环境状况，减少则取样、提取分析等带来的误差； 操作方便，易实现自动化。 （1）方法简介：利用高速电子束轰击试样表面的微小区域时，入射电子透入试样内部与其作用，使其内部原子受激发，然后释放出特征x射线，不同元素发射的x射线不同，通过测定x射线波长及强度，可以判定元素的种类和数量。 （2）应用：是一种电子显微分析技术 可以在不破坏样品情况下进行准确定位分析；可以分析某元素的分布；可以同时测定从硼到铀的所有元素，处于研究元素间相互关系，不象自显影——需放射性元素；灵敏度高：可达10-15-10-18. 6.根际微生物：