共焦拉曼与萤光显微镜光学系统的对光步骤（for 维护人） 对光步骤：.PDF

共焦拉曼與螢光顯微鏡光學系統的對光步驟（for 維護人） 偵測區 樣品區 對光步驟： 1. 開啟綠光雷射並熱機 15 分鐘 2. 開啟 AOM （輸入+24 VDC 的驅動電壓及+0.8 VDC 的調變電壓給 RF driver ） 3. 調整反射鏡 M1 及 M2 的傾斜角旋鈕，使雷射光通過光圈 I1 及 I2 。 4. 調整反射鏡 M3 及 M4 的傾斜角旋鈕，使雷射光通過光圈 I3 及 I4 。 5. 在樣品座安置一面反射鏡，並調整樣品座的傾斜角旋鈕，使反射光通過 I3 6. 在透鏡 L3 之焦點處放置 pinhole 1 ，並微調pinhole 座的上下左右使光通過 pinhole 1 。 7. 將一面反射鏡固定在物鏡座上，調整物鏡座的傾斜角旋鈕使反射光通過 I3（目 的是使物鏡的反射光平行光軸）。 8. 在樣品座前放置屏幕，並在屏幕上用十字標示光點位置。 9. 拆下物鏡座上的反射鏡改裝上物鏡（40X ），然後移動物鏡上下左右將物鏡的 透射光打在十字上（目的是光打在物鏡的鏡心上），然後微調物鏡座的傾斜角 旋鈕，使物鏡收集的反射光通過 I4 。重覆上述的動作，直到透射光打在十字 位置上及反射光通過 I4 為止。 10. 移除屏幕並在樣品座上的反射鏡表面加一片蓋玻片。 11. 在 beam splitter （BS ）之後放置一面鏡子將反射光打至遠處 12. 將物鏡換成 100X 物鏡（鏡頭需滴油） 13. 移動樣品前後位置，使過 BS 後及在遠處的 beam size （clear aperture 約為 2.5 mm ）是相同 14. 移除步驟 9 的反射鏡，使反射光通過透鏡 L3 15. 微調 pinhole 座的上下左右，使光完全通過 pinhole 1 （肉眼判斷） 16. 微調透鏡 L4 的左右使反射光通過 slit （需掀開光譜儀的蓋子觀察） 樣品的放置步驟： Sample holder 放置樣品 Sample holder 固定在樣品座上 1. 卸下 100X 物鏡 2. 將樣品固定在蓋玻片上 3. 利用 3M 膠帶將蓋玻片固定在 sample holder 上（樣品要置於在 sample holder 中間的空洞中） 4. 將 sample holder 固定在樣品座上（上面的螺絲先稍微旋入，然後再將下面的 螺絲完全鎖緊，最後再將上面螺絲完全鎖緊） 5. 移動樣品的上下左右，使光點打在所要量測的位置 6. 調整樣品座的傾斜角旋鈕，使樣品表面的反射光通過 I3 7. 安裝 100X 物鏡（鏡頭需滴油） 8. 將樣品移近物鏡，使過 beam splitter 之後的光束直徑為 2.5 mm （焦點位置的 粗調） 9. 微調 pinhole 1 的上下左右，使過 pinhole 1 的光亮度最大 10. 微調透鏡 L4 的左右使反射光通過 slit （需掀開光譜儀的蓋子觀察） 儀器控制程式說明 (進行資料擷取時，要先設定資料的儲存路徑) ： 物鏡移動平台之控制器 光柵之旋轉台的控制器 使用電控光柵之旋轉台之前，要先按旋轉台之 controller 上“rem/loc”按鍵，確保 亮起紅燈才可由電腦控制。 A. 手動控制光柵之旋轉台