第七章 综合烧录指导书.pptxVIP

烧录测试原理;一、什么是烧录？;该界面是工程模式，密码是admin，进入后可进行参数查询;1.文件调入，把测试配置调入进来 2.烧录版本;客户提供的测试参数范围，需更改值时，可在这更改;;通过此设定，产品测PSAA后，过3秒钟进入更换待测屏界面;当参数更改后，需保存配置 ，点击Save as...;参数的更改可以通过工程 模式下更改，也可以在记事本下更改，需找对名称;1.开始时间 2.通电 3.连接 4.下载烧录文件 5.烧录版本测试 6.进入工厂模式 7.通道测试 8.校准测试 9.原始值测试 10.均匀值测试 11.中断测试 12.存储测试数据 13.断电 14.完成时间;接线图的接法;根据产品的字符和接线图找到主板的相对位置;如何制作只测试的程序;点击Switch进入使用模式，选择Engineer Mode工程模式，输入密码admin;;;;;;把只测试文件调入软件;汇顶的基本认识;1) 测试第二步，将测试板插入电脑USB接口，此时⑴、⑵分别为GTP软件及测试板固件版本号， 测试板工作正常后，才会出现⑵，否则会提示“HID设备未连接”。 2) 测试第三步，通过⑿导入配置，导入ini文件及CFG文件后，在⒀可以看到ini文件路径， 3)可以看到当前ini文件设定的芯片类型、测试模式、模组电压等基本测试信息。 4) 测试第四步，接入模组或Sensor后，点击按钮⑼，或者直接按回车键启动测试，测试结束后软件会提示“OK”或者测试失败原因。;数据（TP）分析;点击右键后，可以进行选择，打“√”表示界面处于显示的状态：;【当前值】：芯片采样值显示（即原始值）。;【差值】：差值为采样值（原始值）与基准值之差。差值用于计算坐标。用手触摸屏体，数值会发生变化并且显示红色的，红色的位置也可以反映屏的坐标;测试板固件升级;1) 启动升级;选择对应的固件，目前一般选择DBG-02V…bin，DBG-01V…bin 支持较早期测试板。;3) 点击【更新固件】按钮，开始升级，升级过程中请勿复位测试板、插拔USB。进入升级模式后，菜单标题会提示‘DBG-Update Mode v1.5’：;设定测试参数;;单层多点项目，原始值很不均匀，可以为数据不均匀的节点单独设置测试参数。;如果有为独立节点设置测试参数，则设置的节点会变成蓝色，用鼠标框选这些节点后，双击鼠标，可以清除设置：;当测试发现问题时，如下图所示，在日志区会提示测试失败，然后显示出具体失败的条目，如“最大值超过限定”、“最小值超过限定”、“相邻数据偏差超限”、“整屏数据最大偏差超限”。;当测试失败时，点击【原始值】按钮可以看到测试不通过的详细原因，红色数据为不通过数据，将鼠标放在红色数据上面，会提示失败原因：;如果测试过程中获取测试数据计数变的很慢时，该组测试结果无效，请检查模组 INT 口是否工作正常。;NG 的原因主要有三个： 1) 屏体或模组出现问题。 屏体或模组问题，在原始值（Rawdata）上一般会表现的很明显，比如工艺或材料出现问题，会导致屏体数据整体变大或者变小；通道Open 时，通常表现为整行或整列数据偏小：;2) 测试环境或者测试治具的原因。 a) 电源波动比较大时，有可能造成测试结果的不稳定。 b) 模组AVDD 或者Sensor EVDD 电压设置错误。电压会影响原始值的大小。 c) 测试治具的干扰。比如Sensor 测试时，Sensor 测试板与Sensor 的连接线过长或者互相缠绕，可能造成数据不稳定。 d) GT9 系列IC 频繁测试出几百K 以上的短路阻抗时，可能是测试环境干扰导致误测，请改善测试环境，并保证测试治具有效接地。;3) 测试参数过于严格或不匹配。 a) Goodix 提供的测试参数，只是基于很少的几块样品分析得出，数据并不能涵盖所有产品，一般在量产时，原始值（Rawdata）会在一定范围内浮动，需要根据实际情况调节测试参数。 b) 测试参数不匹配。比如Sensor 测试使用的ini 文件针对成品生成，但用于测试半成品。Sensor 贴上Cover Lense 后，原始值会变大，可能会增大20%甚至更大，数据偏差过大会导致测试NG。;NG 分析步骤;红色部分为测试 NG 的数据，将鼠标移动到这个区域，会显示测试失败原因，后续根据NG 原因来分析数据：;用手触摸 TP，手触摸的位置差值会变大，数据颜色显示为红色，移动手指，找到NG 的位置（原始值为红色的地方）：;2) 验证差值;调整测试参数;2）原始值最小值超限\按键最小值超限：只要差值满足要求，原始值最小值可以调整到略小于当前Sensor 上的最小值附近，但不能小于屏上数据太多，必须逐步验证、逐步调整。;新思测试SOP;;电脑找到主板驱动，安装成功;用于正版新思盒子;;配置 测试;常见异常：;M