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Memoirs of the Osaka Institute of Technology, Series A Vol. 54, No. 2 (2009)pp. 17 〜 23 InAs 薄膜からの高強度 THz 波放射の膜厚依存性 海野 伸弥・石橋 祐太郎・竹家 啓・ 前元 利彦・佐々 誠彦・井上 正崇・斗内 政吉 工学研究科 電気電子工学専攻 (2009 年 9 月 30 日受理) Film thickness dependence of intense THz radiation from InAs thin films by Shinya UMINO, Yutaro ISHIBASHI, Kei TAKEYA, Toshihiko MAEMOTO, Shigehiko SASA, Masataka INOUE, Masayoshi TONOUCHI Major in Electrical and Electronics Engineering, Graduate Course of Engineering. (Manuscript received September 30, 2009) 1 Memoirs of the Osaka Institute of Technology, Series A Vol. 54, No. 2 (2009)pp. 17〜23 InAs 薄膜からの高強度 THz 波放射の膜厚依存性 * 海野 伸弥 **・石橋 祐太郎 **・竹家 啓 ***・ 前元 利彦・佐々 誠彦・井上 正崇・斗内 政吉 *** 工学研究科 電気電子工学専攻 (2009 年 9 月 30 日受理) Film thickness dependence of intense THz radiation from InAs thin films by Shinya UMINO, Yutaro ISHIBASHI, Kei TAKEYA, Toshihiko MAEMOTO, Shigehiko SASA, Masataka INOUE, Masay

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