边界扫描测试系统（XJTAG）在传感器产业的应用 - 易择传感资讯网.PDF

16.04.08 扫一扫，关注微信 边界扫描测试系统 （XJTAG ）在传感器产业的应用 文章来源：易择传感资讯网 易择小编：海风 半导体行业擅长制造高密度的器件，并且必须制造更高密度的器件。因为集成器件平均 售格的下降速度与晶体管集成密度的上升速度几乎是一致的。因此这两点可被视为穆尔定律 的拓展。 随着晶体管集成密度不断上升，元件的封装技术也在不断发展。如今的元件封装越来越 小通过元件引脚测量是非常困难的。在 PCB 板上设置测点也越来越难实现，尤其是在多层 板上通过埋孔的方式设置测点。为了应对直接测量的困难工程师们发明了像针床式、飞针式 和内部电路测试等方法。然而这些测试方法的缺点在于其速度的问题，因此限制了批量化生 产的效率。现代 MEMS 传感器的体积和封装越来越小，在任何代工开发和制造低成本方面 其测试问题尤为突出。从商业的角度看测试设计必须要有良好的工程实践，如果预算满足的 测试的速度必须优化。 幸运的是，半导体行业预见了这个问题，并在二十年前开发了边界扫描系统。自1990 年以来，半导体制造商就开始引入边界扫描系统。通常的边界扫描系统被用在电路仿真，调 试或编程中，但实际上，这项应用提供的功能远远超过这些。在任何的生产阶段，即使元件 已经安装，使用边界扫描系统可以测量任何一个单元组件和完整的 PCB 产品。（如图 1） 图 1 边界扫描可以连接到任何元件之间 这种应用系统被称为 JTAG(Joint Test Access Group )，它是 IEEE 标准的一部分 （IEEE 1149.x ）。通过软件交互，规定集成器件的物理和功能特性。那么集成电路生产商如何实现 边界扫描的呢？仅仅通过五个引脚就可以提供描述设备的所有功能 （然而二引脚版本也可 用） JTAG 技术通常使用 GPIO 口来代替专用引脚，边界扫描/访问技术可以应用在最小 1 16.04.08 的设备中。LPC81xM 是恩智浦半导体公司基于 Cortex-M0+的低成本 32 位 MCU 系列产品， 它集成了很多功能而它的体积仅仅只有 3.5mm 长，3.14mm 宽。这款产品的小体积特性使得 它特别适合物联网中传感器的融合应用，然而这款产品的引脚宽度为 0.4mm，引脚间距为 0.22mm，此时想通过物理连接方式测量引脚状态非常困难。虽然这个芯片只有 16 个引脚， 但是 LPC812M101JTB16 任然支持 5 针版的 JTAG 。这意味着通过边界扫描，它可以被当做一 个 “网关”，来达到测量整个电路的目的。 LPC812M101JTB16 结合 MEMS 的传感器模块，例如意法半导体公司的惯性传感器 LSM330，可以将惯性传感器节点的性能参数反馈到物联网应用中。以上模块封装到一个24 引脚的栅格阵列 （LGA）中，装尺寸为 3.5 毫米 x 3.1 毫米，这样就成了一个三维加速度计和 三维陀螺仪，并能够提供六个维度的定向。LPC812M101JTB16 和惯性传感器 LSM330 组成的 模型我们这里简称称为 “ST”模型。 注：下文描述 JTAG 在 “ST”中的应用。 边界扫描系统在传感器中的应用实例 边界扫描技术的一个典型应用就是在批量生产环境中测试传感器节点。一旦配置完 成后，将测试所有的开环或闭环网路，