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国防科技大学2010—2011学年春季学期 《 》考试试卷（）卷 锁定放大器（L-in Amplifier，简称LIA）也称为锁相放大器，是一种基于互相关接收理论的弱信号检测设备。当探测器输出的信号电流（或电压）等于探测器本身的噪声电流（或电压）均方根值时，即信噪比等于1时，入射到探测器上的信号辐射通量称为噪声等效功率（Noise Equivalent Power，简称NEP）若在栅极G上施加正电压UG，则在金属极板与半导体衬底之间会产生电场，该电场就会排斥半导体上表面附近的空穴，使之流向半导体下部，从而在上表面的附近形成一层多子（空穴）的耗尽区。而对于少数载流子电子，电场将把它们引入耗尽区内，因此，耗尽区成为电子的“陷阱”，称为势阱若以某种方式向势阱注入电子（例如，利用光电探测器接收光辐射、产生电荷），则被注入的电子将因MOS单元内电场的作用而进入并束缚在势阱内，形成（信号）电荷包存储Si-CCD单元通过控制各栅极上的电压UG的大小从而调节势阱的深度、并利用势阱的耦合原理实现CCD中电荷包的转移电荷包从一个（因存储了这些电荷而变浅的）势阱中流入相邻的深势阱中 解释：（2分） 以N型为例。如果入射光子能量足够大，使价带中的电子能激发到导带，这一过程称为本征吸收掺有杂质的半导体在光照下，N型半导体中施主的束缚电子可以吸收光子而跃迁到导带这种吸收称为杂质吸收前置放大器探测器与前置放大电路噪声匹配 6． 调制盘及光通量波形示意图： （2分） (a) “日出”式调制盘图案 (b) 目标信号调制图 (c)背景信号调制波形 日出式调制盘及波形 小张角目标经光学系统后，到调制盘上就是一个很小的像点；在调制盘转动后，目标像点交替经过调制盘的扇形条纹，产生一系列的脉冲串（如 (b)所示）。 大张角背景经光学系统后，在调制盘上成一个很大的像，会充满整个或大部分调制盘，调制盘转动后，输出的幅值不随时间变化或只有很小的变化，基本上是一个直流信号，其上只有很小的纹波，如 (c)所示。 当小目标与大背景同时成像在调制盘上时，探测器就会同时输出上述两种信号，选择适当的电子滤波器，就可提取目标辐射信号而抑制背景信号。当半导体材料受光照时，由于对光子的吸收引起载流子浓度的变化，因而导致材料电导率变化，这种现象称为光电导效应PN结受到光照时，可在PN结的两端产生电势差，这种现象则称为光伏效应。光伏效应由维恩位移定律。例如，常温背景辐射，，峰值辐射波长，就存在红外背景噪声干扰。因此在探测红外波段信号时，无论怎样提高红外探测器自身的探测能力，但是它的探测极限是要受到红外背景噪声的影响的。背景温度越低，受到限制的探测波长越长，背景噪声干扰也越弱。 3. 四、光电系统分析题-激光多普勒测速仪D限制特定角度的入射光束，提高测量精度（3分） 3.两路前向散射光束由于多普勒效应，光频分别发生微小的增加和减小，将两束散射光同时送到光接收器上，由光电器件按平方律检波，使输出电流中只包含两束光的差频部分，检测该差频的频率，就可计算粒子的运动速度。（5分） 4.在仪器设计时，为使结构紧凑常使光源和接收器放置在同一侧，并将这种光路称为后向散射光路。如图：（5分） 注：画出简单的示意图即可，与上图不相同，只要原理正确，同样计分。 五、综合设计题 1. 应该选择什么类型的探测器作为参考（标准）探测器？为什么？（5分） 参考探测器使用热释电探测器调制盘单色仪 利用参考探测器测量硅光电池原理 光电科学与工程学院2008级《光电技术》考试试题A答案及评分标准 第 1 页 共3页 第 1 页 共3页