x射线荧光光谱分析法测定高合金钢中的si.mn.p.ni.cr.mo研究论文.pdfVIP

检验检测 X 射线荧光光谱分析法测定高合金钢中的 Si. Mn. P. Ni. Cr. Mo 研究 1 2 杨志 ，杨晨 （1. 天津钢管公司技术中心，天津 300301 ；2. 大连理工大学， 辽宁 大连 116024） 摘要：论述了X 荧光光谱测定高合金钢中Si.Mn.P.Ni.Cr.Mo 的分析方法，并考察了准确度，精密度。 研究表明: Si.P 受Mo.Mn.W 等元素的影响，必须进行校正, 方法准确度和精密度令人满意，操作十分简便, 快速。 关键词：X 荧光光谱法；高合金钢；分析方法 TG115.33 A 中图分类号： 文献标识码： X 射线荧光光谱分析是当今国内外在冶金分析 线、背景位置、干扰谱线、分析晶体、准直器、探 中均普遍采用的一种仪器分析方法，具有制样方法 测器和PHD 等进行设定。 简单，分析含量范围宽，准确度高，分析速度较快 1.2 样品的制备 [1] 等优点 。X 射线荧光光谱分析是一种绝对分析方法， 将标准样品及待分析样品置于光谱平磨机上磨 [2] 且具有分析速度快等特点 。本文主要采用基本参 样，保证标准样品及待分析样品表面纹路一致，平 数法和理论 系数法进行定量分析，测定高合金钢中 面光滑，无表面裂纹及夹杂和气孔等。 的Si，Mn ，P ，Ni ，Cr，Mo 元素，准确度和精密度 1.3 校准样品的选择 较高。本文介绍了一种可以满足高效快速测定的新 为保证测量分析的可靠性，用国际标钢8 块制 方法，即X 射线荧光光谱法。 作工作曲线，上述标准样品中各元素应该具有宽泛 的范围含量及适当的梯度含量。 1 实验部分 2 结果与讨论 X 射线荧光光谱分析法是使用入射X 射线即一 [3] 2.1 分析条件的选择 次X 射线，来激发被测样品的一种分析方法 。该 探测系统可以测量这些发射出来的二次X 射线的能 以Si、Mn 、P 元素为例，对其分析时间进行条 量和数量，并将由智能系统收集到的信息转换为样 件试验，现把Si 元素的强度值扩大10 倍，P 元素的 品中不同元素种类及其含量。X 射线荧光光谱分析 强度值扩大200 倍，从而得出此分析方法的最佳分 法进行定量分析的依据是元素的荧光X 射线强度Ii ， 析时间。同理，通过试验确定各个元素的测量条件， 与试样中该元素的含量W 成正比： i 实验图不一一罗列。 Ii=Is Wi[4] 通过实验，每个分析通道的重叠峰和校正系数 1.1 仪器测量条件 被一一确定，然后利用仪器提供superQ 高级分析定 在实验中所使用的设备为荷兰帕纳克科公司的 量软件的经验系数和